Рентгеновский абсорбционный спектрометр тонкой структуры (XAFS) — мощный инструмент для изучения локальной атомной или электронной структуры материалов, широко используемый в таких популярных областях, как катализ, энергетика и нанотехнологии.

2025/01/07

Ключ к раскрытию микроскопического мира материи

Спектр тонкой структуры поглощения рентгеновских лучей (XAFS) — это аналитический инструмент, используемый для изучения структуры и свойств веществ. XAFS получает информацию об атомах и молекулах в образце путем измерения поглощения рентгеновских лучей образцом в определенном диапазоне энергий. XAFS — это мощный инструмент для изучения локальной атомной или электронной структуры материалов. Технология XAFS широко используется в материаловедении, химии, биологии и других областях, особенно в таких областях исследований, как катализ, батареи, датчики и т. д. XAFS имеет важное прикладное значение. Благодаря технологии XAFS исследователи могут получить более глубокое понимание микроструктуры и свойств образцов, что обеспечивает мощную поддержку для проектирования и оптимизации новых материалов.

2024/12/05

Получить последнюю цену? Мы ответим как можно скорее (в течение 12 часов)

имя : This field is required

Телефон : This field is required

*почтовый ящик : Required and valid email address

компания : This field is required

*сообщение : This field is required

Политика конфиденциальности

Hовости