Тонкая структура поглощения рентгеновских лучейспектр (XAFS)аналитический инструмент, используемый для изучения структуры и свойств веществ.ХАФСполучает информацию об атомах и молекулах в образце путем измерения поглощения рентгеновского излучения образцом в определенном диапазоне энергий.ХАФСявляется мощным инструментом для изучения локальной атомной или электронной структуры материалов.ХАФСТехнология широко используется в материаловедении, химии, биологии и других областях, особенно в таких областях исследований, как катализ, аккумуляторы, датчики и т. д.ХАФСимеет важное прикладное значение. ЧерезХАФСБлагодаря этой технологии исследователи могут получить более глубокое понимание микроструктуры и свойств образцов, что обеспечивает мощную поддержку при проектировании и оптимизации новых материалов.