Рентгеновский абсорбционный спектрометр тонкой структуры (XAFS) — мощный инструмент для изучения локальной атомной или электронной структуры материалов, широко используемый в таких популярных областях, как катализ, энергетика и нанотехнологии.

Спектр тонкой структуры поглощения рентгеновских лучей (XAFS) — это аналитический инструмент, используемый для изучения структуры и свойств веществ. XAFS получает информацию об атомах и молекулах в образце путем измерения поглощения рентгеновских лучей образцом в определенном диапазоне энергий. XAFS — это мощный инструмент для изучения локальной атомной или электронной структуры материалов. Технология XAFS широко используется в материаловедении, химии, биологии и других областях, особенно в таких областях исследований, как катализ, батареи, датчики и т. д. XAFS имеет важное прикладное значение. Благодаря технологии XAFS исследователи могут получить более глубокое понимание микроструктуры и свойств образцов, что обеспечивает мощную поддержку для проектирования и оптимизации новых материалов.

Рентгеновский абсорбционный спектрометр тонкой структуры — мощный инструмент для изучения локальной атомной или электронной структуры материалов, широко используемый в таких популярных областях, как катализ, энергетика и нанотехнологии. Основные преимущества XAFS: Изделие с самым высоким световым потоком: Поток фотонов, превышающий 1000000 фотонов/сек/эВ, со спектральной эффективностью, в несколько раз превышающей другие продукты; Получение качества данных, эквивалентного синхротронному излучению Превосходная стабильность: Стабильность интенсивности монохроматического света источника света лучше 0,1%, а дрейф энергии при повторном сборе составляет менее 50 мэВ. Предел обнаружения 1%: High luminous flux, excellent optical path optimization, and excellent light source stability ensure high-quality EXAFS data is obtained even when the measured element content is>1%。

XAFS, как передовой метод определения характеристик для анализа локальной структуры материалов, может предоставить более точную информацию о координации атомной структуры в ближнем структурном диапазоне, чем рентгеновская дифракция кристаллов.