Для повышения качества данных дифракции на монокристаллах необходимо обеспечить высокое качество кристаллов, использовать подходящую мишень, оптимизировать условия, скорректировать стратегии сбора данных, а также тщательно обрабатывать и проверять данные.

Рентгеновская дифракция (РД) — ключевой неразрушающий метод идентификации и характеризации новых материалов. Анализируя дифракционные картины кристаллических решеток, он позволяет определить фазовый состав, кристаллическую структуру и микроструктуру. РРД имеет решающее значение для разработки катализаторов, батарей и биоматериалов, обеспечивая точный анализ тонких пленок и структурных изменений, что способствует инновациям в материаловении.

Рентгеновский дифрактометр для монокристаллов позволяет определить трехмерную атомную структуру путем анализа дифракционных картин рентгеновских лучей (закон Брэгга). Благодаря сбору данных, преобразованию Фурье и уточнению модели, он генерирует карты электронной плотности для определения молекулярных конфигураций.

В данной статье подробно описана комплексная трехступенчатая стратегия устранения дифракционных помех более высокого порядка при рентгеноструктурном анализе монокристаллов. Методы включают аппаратную фильтрацию на источнике с использованием монохроматоров и щелей, оптимизацию параметров во время сбора данных для подавления обнаружения и программные алгоритмы коррекции остаточных эффектов при обработке данных. Этот комбинированный подход обеспечивает высокоточное определение кристаллической структуры за счет контроля ошибок интенсивности.

Компания Дандун Тонгда Наука & Технологии Ко., ООО. совершила прорыв, самостоятельно разработав рентгеновский монокристаллический дифрактометр ТД-5000 в сотрудничестве с академиком Чэнь Сяомином. Этот успех, ставший результатом национального научно-исследовательского проекта, свидетельствует о прорыве Китая в области высокотехнологичных научных приборов, получивших признание как на внутреннем, так и на международном рынке.