Рентгеновский дифрактометр для монокристаллов позволяет определить трехмерную атомную структуру путем анализа дифракционных картин рентгеновских лучей (закон Брэгга). Благодаря сбору данных, преобразованию Фурье и уточнению модели, он генерирует карты электронной плотности для определения молекулярных конфигураций.

Для получения качественного монокристалла для рентгеновской дифракции необходим оптимальный выбор растворителя (умеренная растворимость/летучесть), правильный метод выращивания (испарение/диффузия), высокая чистота образца и отсутствие вибраций в окружающей среде для обеспечения четко определенной морфологии и минимального количества дефектов.

В данной статье подробно описана комплексная трехступенчатая стратегия устранения дифракционных помех более высокого порядка при рентгеноструктурном анализе монокристаллов. Методы включают аппаратную фильтрацию на источнике с использованием монохроматоров и щелей, оптимизацию параметров во время сбора данных для подавления обнаружения и программные алгоритмы коррекции остаточных эффектов при обработке данных. Этот комбинированный подход обеспечивает высокоточное определение кристаллической структуры за счет контроля ошибок интенсивности.