О тонкой структуре поглощения рентгеновских лучей

XAFS, как передовой метод определения характеристик для анализа локальной структуры материалов, может предоставить более точную информацию о координации атомной структуры в ближнем структурном диапазоне, чем рентгеновская дифракция кристаллов.

2024/04/10

Получить последнюю цену? Мы ответим как можно скорее (в течение 12 часов)

имя : This field is required

Телефон : This field is required

*почтовый ящик : Required and valid email address

компания : This field is required

*сообщение : This field is required

Политика конфиденциальности

Hовости