фон

Hовости

Аксессуары для средних и низких температур на месте

Чтобы понять изменения кристаллической структуры во время процессов низкотемпературного охлаждения.

2024/10/16
Читать Далее
Высокотемпературные аксессуары

Понять изменения кристаллической структуры образцов при высокотемпературном нагреве и изменения взаимного растворения различных веществ при высокотемпературном нагреве.

2024/10/15
Читать Далее
Технические параметры рентгеновского дифрактометра серии ТД

Даньдун Тонгда Технологии Ко., ООО. — профессиональное предприятие, производящее рентгеновскую продукцию. Его основной продукцией являются приборы для рентгеновского анализа, и в 2013 году оно стало организатором проекта по разработке специального рентгеновского монокристаллического дифракционного прибора для Министерства науки и технологий Китая. Наша компания придерживается принципов «клиент прежде всего», «продукт прежде всего» и «сервис прежде всего», настаивает на ориентации на людей и имеет сильную технологическую команду. Мы стремимся предоставлять пользователям высококачественные высокотехнологичные продукты с передовыми технологиями и оказывать пользователям сильную поддержку и услуги с эффективными техническими консультациями и учреждениями послепродажного обслуживания.

2024/09/21
Читать Далее
Применение технологии рентгеноструктурный анализ в керамических материалах

Технология рентгеноструктурный анализ играет важную роль в исследованиях и разработках керамических материалов. Он обеспечивает надежную научную основу для синтеза, оптимизации процесса получения, улучшения характеристик и популяризации применения керамических материалов.

2024/02/26
Читать Далее
Данные РФА были использованы для расчета размера зерен и плотности дислокаций.

В исследованиях в области материаловедения рентгеновская дифракция (рентгеноструктурный анализ) является важным экспериментальным методом. С помощью данных рентгеноструктурный анализ мы можем получить такую ​​информацию, как размер зерна, искажение решетки и плотность дислокаций.

2024/02/23
Читать Далее
Методы машинного обучения улучшают рентгеновский анализ материалов

Исследователи из установки синхротронного излучения Весна-8 в Научно-исследовательском институте РИКЕН в Японии и их коллеги разработали более быстрый и простой способ выполнения анализа сегментации, важного процесса в материаловедении.

2024/01/04
Читать Далее
Влияние эволюции морфологии углерода на свойства хранения натрия в твердом углероде

В данной работе был получен ряд твердых углеродных материалов с регулируемой структурой с использованием хитозана в качестве источника углерода и проанализирована связь между эволюцией структуры твердого углерода и свойствами хранения натрия.

2023/11/04
Читать Далее
Спинтроника: рентгеновская микроскопия раскрывает природу доменных стенок

Новое исследование БЕССИ II анализирует образование скомингонов в ферромагнитных пленках диспрозия и кобальта в режиме реального времени с высоким пространственным разрешением.

2023/10/24
Читать Далее
Дефект кристалла - Дислокация

В этой статье мы кратко анализируем один (фактически два) кристаллических дефекта, один дефект и дефект слоя в этих трех кристаллических структурах. Другие кристаллические структуры также имеют дефекты и дефекты слоев.

2023/10/22
Читать Далее
Применение метода рентгеноструктурный анализ в местонахождение для определения характеристик элементов аккумуляторных электродов

рентгеноструктурный анализ — это средство исследования, которое представляет собой дифракцию рентгеновских лучей материала для анализа его дифракционной картины и получения такой информации, как состав материала, структура или форма атомов или молекул внутри материала.

2023/09/13
Читать Далее
Каковы преимущества рентгеноструктурного анализа синхротронного излучения в-местонахождение?

Рентгеновская дифракция, посредством дифракции рентгеновских лучей материала, анализа его дифракционной картины для получения состава материала, структуры или формы атомов или молекул внутри материала и других средств исследования.

2023/08/29
Читать Далее
Некоторые сведения о дифракции рентгеновских лучей (xrd)

Рентгеновская дифракция (XRD) является основным методом изучения фазовой и кристаллической структуры вещества. Когда вещество (кристаллическое или некристаллическое) подвергается дифракционному анализу, вещество облучается рентгеновскими лучами для получения различных степеней явления дифракции, состав материала, тип кристалла, режим внутримолекулярной связи, молекулярная конфигурация, конформация и другие характеристики материала определяют специфическая дифрактограмма вещества.

2023/07/29
Читать Далее
Получить последнюю цену? Мы ответим как можно скорее (в течение 12 часов)
This field is required
This field is required
Required and valid email address
This field is required
This field is required