Даньдун Tongda Technology Co., Ltd. является профессиональным предприятием которое производит рентгеновскую продукцию. Его основной продукт является рентгеновским анализом приборами, и в 2013, он стал проектом предпринимателем для национального крупного научного инструмента и оборудования разработки специального рентгеновского одиночного кристаллического дифракционного инструмента Министерства науки и технологий Китая. Наша компания придерживает принципы клиента первого продукта первого, и услуги первого, настаивает на ориентации на людей, и имеет а сильная технологическая команда. Мы привержены предоставлению пользователям самых самых качественных высокотехнологичных продуктов с передовыми технологиями, и обеспечения сильной поддержки и услуги пользователям с помощью эффективных технических консультационных и послепродажных сервисных учреждений.

Технология рентгеноструктурный анализ играет важную роль в исследованиях и разработках керамических материалов. Он обеспечивает надежную научную основу для синтеза, оптимизации процесса получения, улучшения характеристик и популяризации применения керамических материалов.

В исследованиях в области материаловедения рентгеновская дифракция (рентгеноструктурный анализ) является важным экспериментальным методом. С помощью данных рентгеноструктурный анализ мы можем получить такую ​​информацию, как размер зерна, искажение решетки и плотность дислокаций.

Исследователи из установки синхротронного излучения Весна-8 в Научно-исследовательском институте РИКЕН в Японии и их коллеги разработали более быстрый и простой способ выполнения анализа сегментации, важного процесса в материаловедении.

В данной работе был получен ряд твердых углеродных материалов с регулируемой структурой с использованием хитозана в качестве источника углерода и проанализирована связь между эволюцией структуры твердого углерода и свойствами хранения натрия.

Новое исследование БЕССИ II анализирует образование скомингонов в ферромагнитных пленках диспрозия и кобальта в режиме реального времени с высоким пространственным разрешением.

В этой статье мы кратко анализируем один (фактически два) кристаллических дефекта, один дефект и дефект слоя в этих трех кристаллических структурах. Другие кристаллические структуры также имеют дефекты и дефекты слоев.

рентгеноструктурный анализ — это средство исследования, которое представляет собой дифракцию рентгеновских лучей материала для анализа его дифракционной картины и получения такой информации, как состав материала, структура или форма атомов или молекул внутри материала.

Рентгеновская дифракция, посредством дифракции рентгеновских лучей материала, анализа его дифракционной картины для получения состава материала, структуры или формы атомов или молекул внутри материала и других средств исследования.

Рентгеновская дифракция (XRD) является основным методом изучения фазовой и кристаллической структуры вещества. Когда вещество (кристаллическое или некристаллическое) подвергается дифракционному анализу, вещество облучается рентгеновскими лучами для получения различных степеней явления дифракции, состав материала, тип кристалла, режим внутримолекулярной связи, молекулярная конфигурация, конформация и другие характеристики материала определяют специфическая дифрактограмма вещества.