- дома
- >
Hовости
Высокоразрешающий рентгеновский дифрактометр -3700 является новым членом серии , оснащенным различными высокопроизводительными детекторами, такими как высокоскоростные одномерные матричные детекторы, двумерные детекторы, -детекторы и т. д. Он объединяет быстрый анализ, удобное управление и безопасность пользователя. Модульная аппаратная архитектура и настраиваемая программная система достигают идеального сочетания, делая его интенсивность отказов чрезвычайно низкой, антиинтерференционные характеристики хорошими и гарантируя долгосрочную стабильную работу высоковольтного источника питания. Высокоразрешающий рентгеновский дифрактометр -3700 поддерживает не только обычный метод сканирования дифракционных данных, но и метод сканирования данных пропускания. Разрешение режима пропускания намного выше, чем у режима дифракции, что подходит для структурного анализа и других областей. Режим дифракции имеет сильные дифракционные сигналы и больше подходит для рутинной идентификации фаз в лаборатории. Кроме того, в режиме пропускания образец порошка может находиться в следовых количествах, что подходит для сбора данных в случаях, когда размер образца относительно мал и не соответствует требованиям метода дифракции для подготовки образца. Матричный детектор полностью использует технологию смешанного счета фотонов, без шума, с быстрым сбором данных и более чем в десять раз большей скоростью, чем у сцинтилляционных детекторов. Он имеет превосходное энергетическое разрешение и может эффективно удалять эффекты флуоресценции. Многоканальные детекторы имеют более быстрое время считывания и достигают лучшего соотношения сигнал/шум. Система управления детектором с электронным стробированием и внешним запуском эффективно завершает синхронизацию системы. Принцип работы рентгеновского дифрактометра высокого разрешения -3700: Используя флуктуацию рентгеновских лучей, когда они облучают кристалл, атомы или ионы в кристалле действуют как рассеивающие центры, рассеивая рентгеновские лучи во всех направлениях. Из-за регулярности расположения атомов в кристаллах эти рассеянные волны интерферируют друг с другом и усиливают друг друга в определенных направлениях, образуя дифракцию. Измеряя угол дифракции и интенсивность дифракции, можно получить структурную информацию о кристалле. Основными особенностями рентгеновского дифрактометра высокого разрешения -3700 являются: (1) Простая в эксплуатации система сбора одним щелчком; (2) Модульная конструкция, подключаемые и работающие принадлежности, нет необходимости в калибровке; (3) Онлайн-мониторинг в режиме реального времени с использованием сенсорного экрана для отображения состояния прибора; (4) Электронное устройство блокировки свинцовой двери, двойная защита, обеспечивающая безопасность пользователя; (5) Высокочастотный и высоковольтный рентгеновский генератор со стабильной и надежной работой; (6) Усовершенствованный блок управления записью с высокой помехоустойчивостью. Высокая точность рентгеновского дифрактометра высокого разрешения -3700 позволяет проводить высокоточный анализ кристаллической структуры материалов, например, точно определять постоянные решетки, параметры ячейки и т. д. Точность измерения углов может достигать ±0,0001°. Высокое разрешение рентгеновского дифрактометра -3700 позволяет четко различать соседние дифракционные пики, точно анализировать дифракционную информацию различных кристаллических плоскостей для сложных кристаллических структур и выявлять микроструктурные характеристики материалов. Неразрушающий характер рентгеновского дифрактометра высокого разрешения -3700: он не повреждает образец в процессе тестирования, и образец можно сохранять в исходном состоянии для многократных испытаний, что особенно важно для ценных или труднодоступных образцов. Экспресс-анализ на рентгеновском дифрактометре высокого разрешения -3700: Современные рентгеновские дифрактометры высокого разрешения обладают быстрыми возможностями обнаружения и могут выполнять испытания образцов за короткий промежуток времени, что повышает эффективность работы. 3. Области применения рентгеновского дифрактометра высокого разрешения ТД-3700: Полупроводниковые материалы: используются для определения качества кристаллов полупроводниковых монокристаллических материалов и эпитаксиальных тонких пленок, анализа несоответствия кристаллической решетки, дефектов и другой информации, что помогает оптимизировать производительность полупроводниковых приборов. Сверхпроводящие материалы: изучение кристаллической структуры и процесса фазового перехода сверхпроводящих материалов с целью создания основы для оптимизации сверхпроводящих свойств. Наноматериалы: анализ размера зерна, кристаллической структуры, микроскопической деформации и т. д. наноматериалов помогает исследователям лучше понять их свойства и области применения. Другие области: Он также широко используется в исследованиях и контроле качества металлических материалов, керамических материалов, полимерных материалов, биоматериалов и других областях. Высокоточный рентгеновский дифрактометр с высоким разрешением — это высокоточный, неразрушающий и быстрый аналитический инструмент с важным прикладным значением во многих областях.