Аксессуары для оптоволокнапроверяются на их уникальную кристаллическую структуру с помощью метода рентгеновской дифракции (пропускания). Проверка ориентации образца на основе таких данных, как кристалличность волокна и ширина половины пика. Специализированный компонент, используемый для анализа волокнистых материалов, таких как текстиль, полимерные волокна, биологические волокна и т. д. Обычно используется для изучения кристаллической структуры, ориентации и молекулярного расположения волокон.

Основные функцииАксессуары для волокон:

1. Фиксация образца волокна:Аксессуары для оптоволокнаиспользуются для фиксации образца волокна, обеспечивая стабильность его положения и направления в рентгеновском луче.

2. Анализ ориентации волокон: регулируя положение и угол наклона образца, изучают ориентацию кристаллов и молекулярное расположение волокон.

3. Малоугловое рентгеновское рассеяние (САКС): некоторые волоконные насадки поддерживают САКС для анализа наномасштабной структуры волокон.

Распространенные типыаксессуары для волокон:

1. Устройство для растяжения волокон: может прикладывать натяжение к волокнам во время рентгеновского дифракционного анализа для изучения структурных изменений под нагрузкой.

2. Вращающийся столик для образцов: позволяет вращать образцы волокон, что облегчает сбор данных дифракции под разными углами.

3. Принадлежности для контроля температуры: используются для анализа волокнистых материалов при определенных температурах и изучения влияния температуры на структуру.

Области примененияаксессуары для волокон:

1. Материаловедение: изучение кристаллической структуры и механических свойств синтетических волокон, таких как нейлон и полиэстер.

2. Биоматериалы: анализ структуры натуральных волокон, таких как коллаген и целлюлоза.

3. Текстиль: оценка ориентации и кристалличности текстильных волокон.

Шаги по использованиюаксессуары для волокон:

1. Подготовка образца: Закрепите образец волокна на насадке.

2. Настройте параметры: установите положение источника рентгеновского излучения, детектора и образца.

3. Сбор данных: сбор дифракционных картин.

4. Анализ данных: использование программного обеспечения для анализа данных дифракции и получения структурной информации.

Вопросы, требующие внимания:

- Выравнивание образца: убедитесь, что образец точно выровнен с рентгеновским лучом.

-Оптимизация параметров: оптимизируйте энергию рентгеновского излучения, время экспозиции и т. д. на основе характеристик образца.

-Качество данных: обеспечьте четкие дифракционные картины и избегайте шумовых помех.

Наша компания предоставляет обучение на месте эксплуатации приборов и смежным отраслевым знаниям, а также последующее использование и обслуживание программного обеспечения для анализа, а также полный спектр услуг по техническому обслуживанию оборудования.