Рентгеновская флуоресценция полного отражения (TXRF) — это метод анализа поверхностных элементов, обычно используемый для анализа частиц, остатков и примесей на гладких поверхностях.

рентгеноструктурный анализ — это средство исследования, которое представляет собой дифракцию рентгеновских лучей материала для анализа его дифракционной картины и получения такой информации, как состав материала, структура или форма атомов или молекул внутри материала.

Дифракция рентгеновских лучей скользящего падения (GI-рентгеноструктурный анализ) представляет собой разновидность метода дифракции рентгеновских лучей, который отличается от традиционного эксперимента по рентгеновской дифракции главным образом изменением угла падения рентгеновских лучей и ориентации образца.

В последние годы широкое внимание уделяется методу рентгеновского малоуглового рассеяния биологических макромолекул. В этой статье в основном будет представлен соответствующий прогресс в сочетании биологического малого угла и других методов за последние годы.

Необходимо снизить вредное остаточное напряжение и спрогнозировать тенденцию распределения и величину остаточного напряжения. В этой статье представлен метод неразрушающего контроля остаточного напряжения.

Неразрушающий контроль основан на развитии современной науки и техники. С развитием современной промышленности применение неразрушающего контроля становится все более популярным.

Рентгеновская дифракция (рентгеноструктурный анализ) в настоящее время является мощным методом изучения кристаллической структуры (например, типа и распределения атомов или ионов и их групп, формы и размера ячеек и т. д.).

Рентгеновская кристаллография — это метод, используемый для определения атомной и молекулярной структуры кристалла, при котором кристаллическая структура заставляет падающий рентгеновский луч дифрагировать во многих определенных направлениях.

Рентгеновские лучи — это тип электромагнитного излучения, широко используемый в медицине и промышленности. Хотя большинство рентгеновских лучей производятся искусственно, в природе также существуют некоторые явления, вызывающие рентгеновские лучи.

На основе закона Брэгга рентгеновская дифракция в-местонахождение (рентгеноструктурный анализ) может использоваться для мониторинга изменения фазы и параметров ее решетки на электроде или на границе раздела электрод-электролит в реальном времени во время цикла заряда-разряда электролита. аккумулятор.