Продукты

Рекомендуемые продукты

  • Дифрактометр
    Дифрактометр
    1. Точность дифрактометра высока. 2. Дифрактометр имеет широкий спектр применения. 3. Дифрактометр прост в эксплуатации, удобен и эффективен.
    Более
  • Рентгенодифракционный анализ монокристалла
    Рентгенодифракционный анализ монокристалла
    1. В установке для получения монокристаллов используется технология управления на основе ПЛК. 2. Модульная конструкция, аксессуары подключаются по принципу «подключи и работай». 3. Электронное блокировочное оборудование для дверей с двойной защитой. 4. Монокристаллическая рентгеновская трубка: можно выбрать различные мишени, такие как Cu, Mo и т. д. 5. В монокристалле используется четырехкруговая концентрическая технология, обеспечивающая неизменность центра гониометра.
    Более
  • Рентгеновский кристаллоанализатор серии
    Рентгеновский кристаллоанализатор серии
    1. Рентгеновский прибор прост в эксплуатации и быстро обнаруживает дефекты. 2. Рентгеновский прибор точен и надежен, обладает превосходными характеристиками. 3. Рентгеновский прибор имеет различные функциональные принадлежности для удовлетворения потребностей в различных целях тестирования.
    Более
  • Порошковый дифрактометр
    Порошковый дифрактометр
    1. Тип детектора: Матричный детектор или СДД-детектор; 2. Автоматическое вычисление управления ПЛК, преобразование режима интеграции, ПЛК автоматически выполняет ПХА, коррекцию времени простоя 3. Тип измерения образца: порошкообразный образец, жидкий образец, образец в расплавленном состоянии, вязкий образец, сыпучий порошок, сыпучий твердый образец 4. Доступен с различными принадлежностями для дифрактометра. 5.Максимальная выходная мощность порошка: 3 кВт
    Более

связаться с нами

Пастбищный инцидент, дифракция рентгеновских лучей

2024-01-13

Заболеваемость выпасом означает, чтоРентгеновскийподвергается воздействию пленки под очень малым углом падения (&лт; 5°), что значительно уменьшает глубину проникновения в пленку. В то же время больший малый угол падения увеличивает площадь рентгеновского облучения на образце и увеличивает объем образца, участвующего в дифракции. В этой статье представлена ​​роль ГИД в структурном анализе тонких пленок.


Пример: испытание ГИД однослойной пленки

В этом примере образец представляет собой поликристаллическую пленку РуО2 толщиной 14 нм, приготовленную на подложке из монокристаллического кремния (100). Таким образом, сигнал образца тонкой пленки в обычномрентгеноструктурный анализКартина маскируется сигналом монокристалла Си. Хотя на увеличенном изображении видны дифракционные пики тонкой пленки, сигнал очень слабый. Спектр ГИД образца при угле падения 0,3 градуса показан на рисунке 2. На рисунке нет сигнала монокристаллической подложки Си, а сигнал пленки очевиден. 

X-ray

                                                                                    Рисунок 1

XRD

                                                                                    Рис2



Получить последнюю цену? Мы ответим как можно скорее (в течение 12 часов)

top