В области материаловедения точные измерения служат ключом к пониманию свойств материалов. Многофункциональное интегрированное измерительное устройство, разработанное компанией Даньдун Тонгда Наука и Технология Ко., ООО., представляет собой высокоточный инструмент, расширяющий возможности рентгеновского дифракционного анализа.
Этотмногофункциональный интегрированный измерительный аксессуарСпециально разработан для установки на широкоугольные гониометры. Его основная задача — точный анализ пластинчатых материалов, объёмных материалов и тонких плёнок, нанесённых на подложки.
Устройство может выполнять различные измерительные задачи, включая определение фазы кристалла, анализ степени ориентации и испытания на прочность. Оно поддерживает анализ текстуры, определение остаточных напряжений и тестирование структуры тонких пленок в плоскости, обеспечивая комплексную поддержку данных для материаловедения.
Основные технические характеристики этого приспособления отражены в его многокоординатной прецизионной механической системе и высокоадаптируемых методах измерений.
Многофункциональное интегрированное измерительное приспособление поддерживает измерения полюсной фигуры с использованием методов пропускания и отражения, обеспечивая гибкость для различных образцов и требований к испытаниям.
Для стресс-тестов устройство может использовать как метод бокового, так и метод нормального наклона. Для тонких плёнок устройство также позволяет проводить испытания на вращение в плоскости, что позволяет проводить углублённый анализ структуры плёнок.
Прецизионная механическая система обеспечивает высокую точность и повторяемость измерений с минимальным шагом 0,001° (для осей вращения) и 0,001 мм (для осей перемещения).
Область применения многофункционального интегрированного измерительного устройства чрезвычайно широка и охватывает практически все передовые области производства и НИОКР, требующие анализа структуры материалов.
В области металлических материалов он используется для оценки коллективной организации металлов, таких как прокатные пластины; в керамике он фокусируется на оценке ориентации керамики.
Для тонкопленочных материалов приставка может анализировать предпочтительную ориентацию кристаллов в образцах пленок и тестировать остаточное напряжение многослойных пленок (оценивая такие свойства, как отслаивание пленки).
Он также может анализировать поверхностные пленки окисления и нитридизации на пленках высокотемпературных сверхпроводящих материалов и металлических пластинах, а также многослойные пленки на стеклянных, кремниевых и металлических подложках.
В частности, его можно также применять для анализа макромолекулярных материалов, бумаги, материалов для покрытия линз и многого другого, что демонстрирует потенциал его междисциплинарного применения.
