Рентгеновскийдифракция— это широко используемый неразрушающий аналитический метод, который можно использовать для выявления кристаллической структуры, химического состава и физических свойств веществ.
1. Фазовый анализ
Фазовый анализ основан на взаимосвязи между положением и интенсивностью дифракционных линий вДифракция рентгеновского излученияструктура, период расположения атомов и фазовый состав. Положение дифракционной линии связано с периодичностью расположения атомов. Для разных фаз существуют определенные рентгенограммы.
2. Параметр решетки
Постоянная решетки является наиболее основным структурным параметром кристаллического материала. Теоретическая основа РентгеновскийДифракционный метод определения параметров решетки заключается в расчете параметров решетки по закону Брэгга и зависимости между параметрами решетки и величиной расстояния d кристаллической плоскости.
3. Остаточное напряжение
Какнеразрушающий контрольДля глубокого изучения остаточных напряжений можно использовать метод рентгеновской дифракции. Макроскопическое остаточное напряжение проявляется смещением положения пика на спектре рентгеновской дифракции. При наличии сжимающего напряжения расстояние между гранями кристалла становится меньше, поэтому дифракционный пик смещается в сторону большего угла; и наоборот, при наличии растягивающего напряжения расстояние между гранями кристалла увеличивается, что приводит к смещению дифракционного пика в сторону меньшего угла.
