Спектр тонкой структуры рентгеновского поглощения (XAFS) — мощный инструмент для изучения локальной атомной или электронной структуры материалов, широко используемый в таких популярных областях, как катализ, энергетика и нанотехнологии. Принцип тонкой структуры рентгеновского абсорбционного спектра (XAFS): Тонкая структура поглощения рентгеновских лучей Спектр относится к спектрам высокого разрешения вблизи характерных краев атомных электронов, поглощающих рентгеновские лучи. Когда энергия рентгеновских лучей такая же, как энергия возбуждения электронов внутренней оболочки измеряемого элемента, они будут сильно поглощаться, что приведет к пределу поглощения (или краю поглощения). Вблизи края поглощения, из-за многократного рассеяния и других причин, коэффициент поглощения рентгеновских лучей будет демонстрировать колебательные явления, а именно тонкую структуру. 2. Основные преимущества рентгеновского абсорбционного тонкоструктурного спектра (XAFS): (1) Самый высокий световой поток продукта, с потоком фотонов, превышающим 1000000 фотонов/сек/эВ, и спектральной эффективностью, в несколько раз превышающей другие продукты; Получение качества данных, эквивалентного синхротронному излучению (2) Отличная стабильность, стабильность интенсивности монохроматического света источника света лучше 0,1%, а повторный дрейф энергии составляет менее 50 мэВ. (3) Предел обнаружения 1%, высокий световой поток, превосходная оптимизация оптического пути и превосходная стабильность источника света гарантируют, что высококачественные данные EXAFS могут быть получены даже при измеренном содержании элемента >1%. 3. Области применения XAFS: Промышленный катализ, материалы для хранения энергии, наноматериалы, экологическая токсикология, качественный анализ, анализ тяжелых элементов и т. д. 4. Основные особенности XAFS: (1) Короткий порядок: EXAFS зависит от ближних взаимодействий и не полагается на дальний порядок. XAFS можно использовать для изучения структуры неупорядоченных систем, таких как аморфные, жидкие, расплавленные и активные центры катализаторов. (2) Специфичность элементов: метод флуоресценции может быть использован для измерения образцов элементов с концентрацией вплоть до одной миллионной. Регулируя энергию падающего рентгеновского излучения, можно изучать соседние структуры атомов различных элементов в одном соединении. (3) Характеристики поляризации: поляризованные рентгеновские лучи можно использовать для измерения углов связи атомов и структур поверхности в ориентированных образцах. Спектр тонкой структуры рентгеновского поглощения, обладающий уникальными принципами, важными характеристиками и широкими областями применения, стал незаменимым и важным инструментом во многих областях, таких как материаловедение, каталитическая химия и энергетические исследования, обеспечивая надежную поддержку для углубленного изучения микроструктур материалов и электронных состояний.

Автоматическое устройство смены образцов, используемое в рентгеновских дифрактометрах, представляет собой устройство, предназначенное для автоматизированной замены образцов с целью повышения эффективности и точности экспериментов по рентгеновской дифракции. Приводимый в действие импортным шаговым двигателем и управляемый импортным программируемым логическим контроллером (ПЛК) Сименс, нет необходимости в ручной замене образцов. Система автоматически непрерывно измеряет образцы и автоматически сохраняет данные. Несколько образцов могут быть загружены одновременно для непрерывного измерения. Основными компонентами автоматического устройства смены образцов являются: Механизм перемещения образцов: обычно включает в себя конвейерную ленту, эластичную прижимную пластину и приводной двигатель, отвечающий за последовательное перемещение пластин с образцами для испытаний в положение извлечения. Механизм замены образца: обычно состоит из зажимных компонентов, компонентов привода и поворотного стола, может автоматически заменять пластину образца между позицией захвата конвейерной ленты и предметным столиком дифракционного прибора. Модуль датчика: такой как модуль фотоэлектрического датчика и модуль фоторезисторного датчика, используется для определения положения образца и рабочего состояния дифрактометра с целью управления модулем схемы для выполнения соответствующих управляющих действий. Модуль схемы управления: подключает и контролирует совместную работу вышеупомянутых механизмов и модулей для обеспечения точной и стабильной работы процесса автоматической смены образцов. Модуль питания: обеспечивает питание всего устройства автоматической смены образцов. 2. Принцип работы автоматического устройства смены образцов: После того, как дифрактометр завершает тестирование текущего образца, сенсорный модуль обнаруживает изменение состояния света затвора дифрактометра и передает сигнал в модуль схемы управления. После получения сигнала модуль схемы управления активирует механизм замены образца, чтобы переместить его в положение захвата конвейерной ленты и на столик образца дифракционного прибора, а также зажимает пластины образца в двух положениях соответственно с помощью зажимных частей. Затем механизм замены образца меняет местами две пластины образца, завершая операцию замены образца. Затем запускается конвейерная лента и перемещает следующую плату образца в позицию захвата, ожидая следующей смены образца. 3. Преимущества и характеристики автоматических сменщиков образцов: • Повышение эффективности тестирования: он может автоматически заменять образцы в процессе тестирования дифракционного прибора без ручного вмешательства, что значительно сокращает цикл тестирования и повышает эффективность работы. • Уменьшение человеческого фактора: исключение эксплуатационных ошибок и ошибок, которые могут возникнуть при ручной замене образцов, а также повышение точности и надежности результатов испытаний. • Защита прибора: снижает вероятность выхода прибора из строя из-за частого ручного открытия и закрытия дверцы дифрактометра и продлевает срок службы дифрактометра. • Подходит для тестирования большого количества образцов: он может загружать несколько образцов для удовлетворения потребностей непрерывного тестирования большого количества образцов и подходит для высокопроизводительного обнаружения в таких областях, как научные исследования и производство. Подводя итог, можно сказать, что автоматическое устройство смены образцов, используемое в рентгеновских дифракционных приборах, представляет собой эффективное и точное автоматизированное оборудование, которое обеспечивает множество удобств и преимуществ для экспериментов по рентгеновской дифракции, помогая повысить эффективность и качество эксперимента.

Графитовый изогнутый кристаллический монохроматор, используемый в рентгеновских дифрактометрах, является ключевым компонентом для выбора определенных длин волн рентгеновских лучей и удаления нежелательного излучения, такого как линии K β и флуоресцентные рентгеновские лучи. Графитовый изогнутый кристаллический монохроматор представляет собой компонент, установленный перед детектором рентгеновского излучения, который монохроматизирует рентгеновские лучи, проходящие через приемную щель, и обнаруживает только характеристические рентгеновские лучи Kα в рентгеновском спектре. Используя это устройство, можно полностью устранить непрерывное рентгеновское излучение, характеристическое рентгеновское излучение K β и флуоресцентное рентгеновское излучение, что позволяет проводить рентгеновский дифракционный анализ с высоким отношением сигнал/шум. Когда рентгеновские трубки с медной мишенью используются в сочетании с соответствующими монохроматорами, можно устранить флуоресцентные рентгеновские лучи, генерируемые образцами на основе Мн, Фе, Ко, Ни, что делает их пригодными для анализа различных образцов. принцип работы: Дифракция Брэгга: согласно закону Брэгга, когда рентгеновские лучи падают на кристалл под определенным углом, если 2dsin θ=n λ (где d — межплоскостное расстояние кристалла, θ — угол падения, λ — длина волны рентгеновского луча, а n — целое число), произойдет дифракция. Этот принцип используется для регулировки ориентации кристалла таким образом, чтобы через него могли проходить только рентгеновские лучи, соответствующие определенным условиям, тем самым достигая выбора длин волн рентгеновского излучения. Энергетическое разрешение: Благодаря межплоскостному расстоянию и структурным характеристикам графитовых кристаллов, он может эффективно различать рентгеновские лучи разных энергий. Графитовый изогнутый кристаллический монохроматор с высоким энергетическим разрешением может дополнительно уменьшить нежелательное излучение и улучшить качество дифракционных данных. Конструктивные особенности: Изогнутая форма: графитовый изогнутый кристаллический монохроматор обычно имеет изогнутую форму, которая помогает фокусировать рентгеновские лучи и улучшить эффективность дифракции. В то же время изогнутая форма также помогает снизить нагрузку на кристалл, улучшить его стабильность и срок службы. Графит высокой чистоты: Графитовый изогнутый кристалл-монохроматор обычно изготавливается из графитовых материалов высокой чистоты, чтобы обеспечить их хорошие дифракционные характеристики и стабильность. Высокая эффективность дифракции: прибор обладает высокой эффективностью дифракции, что позволяет эффективно выбирать рентгеновские лучи нужной длины волны, тем самым улучшая качество дифракционных данных. Широкий диапазон длин волн: может работать в широком диапазоне длин волн и подходит для различных типов экспериментов по рентгеновской дифракции. Хорошая стабильность: Благодаря использованию графитового материала высокой чистоты он обладает хорошей стабильностью и длительным сроком службы. Области применения: Материаловедение: В области материаловедения рентгеновские дифрактометры широко используются для изучения кристаллической структуры, фазового состава и других свойств материалов. Графитовый изогнутый кристаллический монохроматор, как важный компонент рентгеновского дифрактометра, обеспечивает важную техническую поддержку для исследований в области материаловедения. Физика: В области физики рентгеновские дифрактометры также используются для изучения микроструктуры и физических свойств вещества. Подводя итог, можно сказать, что монохроматор на основе изогнутого графитового кристалла, используемый в рентгеновских дифрактометрах, представляет собой эффективное и точное устройство для отбора и фильтрации рентгеновских лучей, обеспечивающее важную техническую поддержку экспериментов по рентгеновской дифракции.

Вращающийся держатель образца в рентгеновском дифрактометре является ключевым компонентом, используемым для точной регулировки и фиксации положения образца, образец может вращаться в своей собственной плоскости, что полезно для ошибок, вызванных крупными зернами. Для образцов с текстурой и кристаллографией вращающийся держатель образца обеспечивает хорошую воспроизводимость интенсивности дифракции и устраняет предпочтительную ориентацию. Принцип работы вращающегося держателя образца: При работе рентгеновского дифрактометра рентгеновские лучи высокой энергии, генерируемые источником рентгеновского излучения, облучают образец, закрепленный на вращающемся предметном столике. Вследствие особой кристаллической структуры и параметров решетки образца рентгеновские лучи будут подвергаться явлениям рассеяния, поглощения и дифракции при взаимодействии с образцом, где явления дифракции происходят в соответствии с требованиями уравнения Брэгга. Вращающийся держатель образца может вращаться на меньшие углы в соответствии с настройкой, позволяя образцу получать рентгеновское облучение под разными углами, тем самым получая дифракционные картины под разными углами. Таким образом, детектор может измерять интенсивность рентгеновского излучения после дифракции образца и преобразовывать ее в электрический сигнал для передачи на компьютер для обработки данных. Основная функция вращающегося держателя образцов: Метод вращения: ось β (плоскость образца) Скорость вращения: 1~60 об/мин Ширина малого шага: 0,1 º Режим работы: Вращение с постоянной скоростью для сканирования образца (шаговое, непрерывное) Преимущества вращающегося держателя образцов: Вращающийся держатель образца может повысить точность дифракционных данных: Для образцов с нерегулярной формой порошка или частиц, характеристика предпочтительной ориентации склонна возникать во время обычной подготовки порошковых образцов, что приводит к отклонениям в распределении интенсивности дифракции и влияет на точность анализа результатов дифракции. Вращение столика образца может перемещать образец в определенной форме в соответствующем пространстве, устраняя влияние предпочтительной ориентации в определенной степени, тем самым повышая точность дифракционных данных. Вращающийся держатель образца может адаптироваться к различным потребностям тестирования: способен адаптироваться к различным типам приборов для измерения угла рентгеновской дифракции, таким как приборы для измерения вертикального угла, маломощное компактное оборудование для порошковой дифракции и т. д., обеспечивая удобство для различных потребностей тестирования. А вращающийся держатель образца может соответствовать требованиям различных образцов и условий тестирования путем регулировки таких параметров, как скорость и управление. Вращающийся держатель образца может расширить аналитические возможности прибора: постоянно разрабатываются и применяются новые типы вращающихся столиков для образцов, например, некоторые столики для электрохимического рентгеновского дифракционного анализа в место, которые позволяют отслеживать и анализировать изменения материалов в различных средах или условиях в режиме реального времени, расширяя аналитические возможности рентгеновского дифракционного оборудования. Подводя итог, можно сказать, что вращающийся держатель образца в рентгеновском дифрактометре имеет решающее значение для точного получения информации о кристаллической структуре веществ. Вращающийся держатель образца может не только повысить точность дифракционных данных, но и адаптироваться к различным потребностям испытаний и расширить аналитические возможности прибора.

В рентгеновском дифрактометре многофункциональные интегрированные измерительные принадлежности являются важнейшим компонентом, который значительно повышает функциональность и гибкость прибора. Используется для анализа пленок на платах, блоках и подложках и может выполнять такие тесты, как определение кристаллической фазы, ориентации, текстуры, напряжения и структуры тонких пленок в плоскости. Базовый обзор многофункциональных интегрированных измерительных принадлежностей: Определение: Это общий термин для ряда дополнительных устройств или модулей, используемых в рентгеновском дифрактометре для расширения функций прибора, повышения точности и эффективности измерений. Назначение: Эти насадки позволяют рентгеновскому дифрактометру удовлетворять более широкий спектр экспериментальных потребностей и предоставлять более полную и точную информацию о структуре материалов. Функциональные характеристики многофункциональных интегрированных измерительных принадлежностей: Выполнить тестирование полярной диаграммы с использованием методов пропускания или отражения; Стресс-тестирование можно проводить с использованием метода параллельного наклона или метода того же наклона; Испытание тонких пленок (вращение образца в плоскости). Технические характеристики многофункциональных интегрированных измерительных принадлежностей: Высокая точность: обычно они используют передовые технологии датчиков и системы управления для обеспечения высокой точности и повторяемости измерений. Автоматизация: многие насадки поддерживают автоматизированные операции и могут быть легко интегрированы с хостом рентгеновского дифрактометра для выполнения измерений одним щелчком мыши. Модульная конструкция: позволяет пользователям выбирать и комбинировать различные вспомогательные модули в соответствии с их реальными потребностями. Области применения многофункциональных интегрированных измерительных принадлежностей: Широко используется в таких областях, как материаловедение, физика, химия, биология и геология; Оценка сборных металлических конструкций, таких как прокатные листы; Оценка ориентации керамики; Оценка приоритетной ориентации кристаллов в тонкопленочных образцах; Испытания на остаточные напряжения различных металлических и керамических материалов (оценка износостойкости, стойкости к резанию и т.д.); Испытание на остаточное напряжение многослойных пленок (оценка отслаивания пленки и т.п.); Анализ поверхностного окисления и нитридных пленок на высокотемпературных сверхпроводящих материалах, таких как тонкие пленки и металлические пластины; Стекло Си. Анализ многослойных пленок на металлических подложках (магнитные тонкие пленки, пленки для упрочнения поверхности металлов и т. д.); Анализ гальванических материалов, таких как макромолекулярные материалы, бумага и линзы. Многофункциональные интегрированные измерительные принадлежности в рентгеновском дифрактометре являются ключом к улучшению производительности прибора. Они не только улучшают функциональность прибора, но и повышают точность и эффективность измерений, предоставляя исследователям более комплексные и глубокие методы анализа материалов. С непрерывным развитием технологий эти принадлежности будут продолжать играть важную роль в содействии научным исследованиям в смежных областях для достижения большего количества прорывов.

Высокотемпературная приставка в дифрактометре — это дополнительное устройство, которое может выполнять рентгеновский дифракционный анализ образцов в условиях высоких температур. Понять изменения в кристаллической структуре образцов при высокотемпературном нагреве и изменения во взаимном растворении различных веществ при высокотемпературном нагреве. Принцип работы высокотемпературного аксессуара: Используя такие методы, как резистивный нагрев, индукционный нагрев или радиационный нагрев, образец нагревается в заданном диапазоне температур. В то же время он оснащен высокоточными датчиками температуры и системами управления для контроля и регулировки температуры образца в реальном времени, обеспечивая стабильность и точность температуры. Точность контроля температуры может достигать ±0,5℃ или даже выше. Чтобы поддерживать стабильность образца при высоких температурах и не допускать его реакции с кислородом в воздухе, высокотемпературные принадлежности обычно требуют системы защиты атмосферы. Обычные атмосферы включают инертные газы, такие как аргон, азот и т. д. Система контроля атмосферы может точно контролировать скорость потока и давление атмосферы, обеспечивая стабильную экспериментальную среду для образца. Основными функциями высокотемпературного аксессуара являются: Мониторинг в реальном времени фазового перехода образца, химических реакций, изменений кристаллической структуры и других процессов может осуществляться в высокотемпературных средах для получения информации о структуре и свойствах веществ при различных температурах. Анализируя положение, интенсивность и форму дифракционных пиков, можно получить параметры кристаллической ячейки, кристаллическую структуру, фазовый состав и другую информацию об образце, а также точно измерить содержание каждого компонента. Изучить скорость, механизм и диффузионное поведение химических реакций. Например, наблюдение за структурными изменениями катализаторов во время высокотемпературных реакций, понимание образования и исчезновения их активных центров и оптимизация производительности катализаторов. Область применения высокотемпературной принадлежности: Используется для изучения фазового перехода, эволюции кристаллической структуры и изменений характеристик высокотемпературных сверхпроводящих материалов, металлических сплавов, керамических материалов и т. д. при различных температурах, обеспечивая основу для проектирования и подготовки материалов. Мониторинг изменений в веществах во время химических реакций, таких как изучение структурных изменений катализаторов и эволюции активных центров в высокотемпературных каталитических реакциях, может помочь в разработке эффективных катализаторов. Изучение физических свойств веществ при высоких температурах, таких как магнетизм, электронная структура и их связь с температурой, а также исследование новых физических явлений и законов. Технические параметры высокотемпературного аксессуара: Температурная установка: Среда инертного газа от комнатной температуры до 1200 ℃ Вакуумная среда: высокая температура 1600 ℃ Точность контроля температуры: ± 0,5 ℃ Материал окна: Полиэстеровая пленка Метод охлаждения: циркуляционное охлаждение деионизированной водой Подводя итог, можно сказать, что высокотемпературная приставка в дифрактометре является важным испытательным инструментом, который позволяет проводить рентгеновский дифракционный анализ образцов в условиях высоких температур, обеспечивая надежную поддержку исследований в таких областях, как материаловедение, химическая инженерия и физика.

Многофункциональный держатель образцов в рентгеновском дифрактометре — это устройство, используемое для размещения и фиксации образцов, с множеством функций и особенностей. Он может тестировать следовые количества порошковых образцов, а также образцы, которые имеют форму листа, большого размера, нерегулярную форму, которые нельзя разрезать или измельчить в порошок. Многофункциональный держатель образца для фиксации и поддержки образца: держатель образца может надежно зафиксировать образец, гарантируя его устойчивость во время рентгеновской дифракции и предотвращая влияние перемещения образца на точность и надежность данных дифракции. Многофункциональная регулировка высоты и угла держателя образца: имеет функцию регулировки высоты и угла, а также может гибко регулировать расстояние и относительный угол между образцом и рентгеновской трубкой и детектором в соответствии с размером, формой и требованиями к обнаружению различных образцов для получения наилучшего эффекта дифракции. Функция вращения многофункционального держателя образца: некоторые столы для образцов могут вращаться, что позволяет образцу получать рентгеновское облучение под разными углами, тем самым получая больше дифракционной информации под разными углами, что помогает всесторонне проанализировать кристаллическую структуру и ориентацию образца. Адаптация многофункционального держателя образцов: его можно адаптировать к различным типам образцов, таким как твердые, жидкие, порошкообразные и т. д. Заменяя различные приспособления или принадлежности для образцов, можно удовлетворить требования к испытаниям различных образцов. Многофункциональный держатель образцов с контролем окружающей среды: некоторые усовершенствованные держатели образцов также оснащены системами контроля окружающей среды, которые позволяют испытывать образцы при определенной температуре, влажности, атмосфере и других условиях для моделирования воздействия различных сред на образцы, что еще больше расширяет область применения рентгеновских дифрактометров. Многофункциональный держатель образца в рентгеновском дифрактометре представляет собой мощное, гибкое и универсальное вспомогательное оборудование, имеющее большое значение для повышения точности и эффективности рентгеновских дифракционных экспериментов.

Параллельный оптический измерительный аксессуар для пленки — это оптический компонент, используемый для усиления интенсивности сигнала тонких пленок и уменьшения влияния сигналов подложки на результаты измерений. Обычно используется в оптических экспериментах или приборах, в основном для генерации параллельных пучков или проведения оптических измерений на образцах тонкой пленки. Увеличивая длину решетки, можно добиться более точного управления и фильтрации света. Когда свет проходит через нее, решетчатая пластина может отфильтровывать больше рассеянных линий, делая проходящий свет более чистым и концентрированным, тем самым уменьшая помехи рассеянного света на сигнале тонкой пленки и увеличивая силу сигнала самой тонкой пленки, повышая точность и надежность измерения. 1. Основная функция параллельного оптического измерительного устройства для плёнки Повышение точности измерений: При обнаружении и анализе тонких пленок, например, при измерении толщины тонкой пленки, определении оптических констант и т. д., параллельные легкие тонкопленочные насадки могут эффективно снизить влияние сигналов подложки, приближая результаты измерений к истинным характеристикам тонкой пленки, тем самым повышая точность и достоверность измерений. Усиление силы сигнала: помогает увеличить интенсивность светового сигнала, отраженного или переданного тонкой пленкой, что особенно важно для некоторых образцов тонкой пленки с более слабыми сигналами. Усиленный сигнал может быть более четко получен и распознан детектором, что снижает предел обнаружения и повышает чувствительность прибора для обнаружения образцов тонкой пленки. Улучшение качества изображения: в некоторых приложениях, требующих визуального наблюдения за тонкими пленками, например, при наблюдении за морфологией поверхности тонких пленок под микроскопом, параллельные световые насадки для тонкой пленки могут уменьшить фоновый шум и размытость, вызванные рассеянным светом, делая изображение тонкой пленки более четким, контрастным и облегчая наблюдение и анализ подробной структуры тонкой пленки. 2. Основные компоненты параллельного оптического измерительного устройства для плёнки Источник света: Обычно используются лазеры, светодиоды или другие источники монохромного света. Коллиматорная линза: преобразует расходящиеся световые лучи в параллельный свет. Подставка для образцов: используется для размещения образцов пленки, обычно регулируется по положению и углу наклона. Детектор: используется для приема проходящих или отраженных световых сигналов для измерения и анализа. 3. Области применения параллельного оптического измерительного устройства для плёнки Оптические исследования: используются для изучения оптических свойств тонких пленок, таких как интерференция, дифракция и т. д. Материаловедение: используется для измерения толщины и показателя преломления тонких пленок, а также для оценки свойств материалов. Промышленные испытания: используются для контроля качества и испытаний при производстве пленки. 4. Инструкции по использованию параллельного оптического измерительного прибора для плёнки Отрегулируйте источник света: убедитесь, что источник света стабилен, а луч равномерен. Коллимированный луч: отрегулируйте луч света с помощью коллиматорной линзы, чтобы сделать его параллельным. Поместите образец: Поместите образец пленки на предметный столик, отрегулируйте положение и угол. Измерение и анализ: используйте детекторы для приема световых сигналов, записи данных и проведения анализа. 5. Меры предосторожности Стабильность источника света: обеспечьте стабильность источника света, чтобы избежать ошибок измерения. Чистка оптических компонентов: Содержите оптические компоненты в чистоте, чтобы избежать попадания пыли и пятен, влияющих на результаты измерений. Подготовка образца: Для получения точных результатов измерений убедитесь, что образец пленки однороден и не имеет дефектов. Подводя итог, можно сказать, что параллельное оптическое измерительное устройство для плёнки является важным оптическим компонентом, который играет решающую роль во многих областях и имеет большое значение для содействия научным исследованиям и технологическому прогрессу в смежных областях.

Средне- и низкотемпературная принадлежность рентгеновского дифрактометра является ключевым компонентом, используемым для рентгеновского дифракционного анализа в низкотемпературных средах. Средне- и низкотемпературная принадлежность широко используется в научно-исследовательских и опытно-конструкторских работах в области материаловедения, физики, химии и других областях, особенно подходит для сценариев, требующих структурного анализа материалов в различных температурных условиях. Для понимания изменений в кристаллической структуре в процессе низкотемпературного охлаждения ниже приведены технические параметры средне- и низкотемпературного аксессуара: Вакуумная среда:- 196~500℃ Точность контроля температуры: ± 0,5 ℃ Метод охлаждения: жидкий азот (расход менее 4 л/ч) Материал окна: Полиэстеровая пленка Метод охлаждения: циркуляционное охлаждение деионизированной водой Короче говоря, средне- и низкотемпературная принадлежность рентгеновского дифрактометра является важным компонентом оборудования, который может обеспечить надежную поддержку научных исследований и анализа материалов. Средне- и низкотемпературная принадлежность дифрактометра является одним из важных инструментов в области анализа структуры материалов с широкими перспективами применения и значительной исследовательской ценностью. Средне- и низкотемпературная принадлежность дифрактометра является ключевым компонентом для обеспечения нормальной работы и точного измерения прибора в условиях низких температур. Его конструкция и эксплуатационные характеристики напрямую влияют на точность и надежность экспериментальных результатов. При выборе и применении средне- и низкотемпературной принадлежности следует в полной мере учитывать экспериментальные требования, характеристики образца, а также технические параметры и эксплуатационные характеристики принадлежностей, чтобы обеспечить наилучшие экспериментальные результаты.

Рентгеновский облучатель генерирует высокоэнергетические рентгеновские лучи для облучения целевых объектов или биологических тканей. Генерация рентгеновских лучей обычно достигается путем ускорения электронов для столкновения с металлическими мишенями (такими как вольфрам, медь и т. д.), генерации тормозного излучения и формирования рентгеновских пучков, которые затем облучают клетки или мелких животных. Рентгеновский облучатель используется для различных фундаментальных и прикладных исследований. Исторически использовались радиоактивные изотопные облучатели, которые требовали транспортировки образцов в основную установку для облучения. Однако сегодня в лабораториях можно установить более компактный, безопасный, простой и недорогой рентгеновский облучатель для удобного и быстрого облучения клеток. Различные образцы можно напрямую облучать в лаборатории, не влияя на фертильность или безопасность. Рентгеновский облучатель удобен для персонала, который не прошел профессиональную подготовку по рентгенологии, и нет дорогостоящих заявлений на получение лицензии или затрат на безопасность или обслуживание источника излучения. Рентгеновский облучатель прост в эксплуатации, безопасен, надежен и экономически эффективен и может заменить источники радиоактивных изотопов. 1. Основные области применения рентгеновского облучателя включают медицинскую сферу, сферу научных исследований и т. д. 2. Меры предосторожности при работе с рентгеновским оборудованием: Защита от радиации: операторам необходимо носить защитную одежду, чтобы избежать длительного воздействия рентгеновского излучения. Техническое обслуживание оборудования: Регулярно проверяйте оборудование, чтобы убедиться в его нормальной работе и предотвратить утечку радиации. Контроль дозы: Строго контролируйте дозу облучения, чтобы избежать ненужного вреда образцу или организму человека.

Принцип действия и применение переносной рентгеновской испытательной машины для сварки неразрушающий контроль: Переносной рентгеновский сварочный испытательный аппарат неразрушающий контроль использует акустические, оптические, магнитные и электрические свойства материалов для обнаружения дефектов или неровностей в испытываемом объекте без повреждения или ухудшения его характеристик. Он предоставляет информацию о размере, местоположении, характере и количестве дефектов. По сравнению с разрушающим контролем неразрушающий контроль имеет следующие характеристики. Первый — неразрушающий, так как он не ухудшает характеристики обнаруженного объекта во время тестирования; Второй — всесторонний, так как обнаружение является неразрушающим, необходимо провести 100%-ное всестороннее обнаружение испытываемого объекта, чего невозможно достичь разрушающим контролем; Третий — всесторонний, и разрушающий контроль, как правило, применим только к испытанию сырья, такого как растяжение, сжатие, изгиб и т. д., обычно используемого в машиностроении. Разрушающий контроль проводится на производственном сырье, а для готовых изделий и предметов, находящихся в употреблении, разрушающий контроль не может быть проведен, если они не предназначены для дальнейшего использования. Неразрушающий контроль, с другой стороны, не ухудшает характеристики испытываемого объекта. Таким образом, он может не только выполнять полное тестирование технологического процесса производства сырья, промежуточных процессов и даже готовой продукции, но и тестировать оборудование, находящееся в эксплуатации. Характеристики портативной рентгеновской испытательной машины для сварки неразрушающий контроль: Рентгеновский генератор имеет небольшой объем, заземленный анод и принудительное охлаждение вентилятором; ◆ Легкий, удобный для переноски и простой в эксплуатации; Работа и отдых в соотношении 1:1; Красивый внешний вид и разумная структура; ◆ Отсроченное воздействие для обеспечения безопасности оператора; Основное назначение портативной рентгеновской испытательной машины для сварки неразрушающий контроль: Основным назначением оборудования является проверка качества обработки и сварки материалов и компонентов, таких как корпуса судов, трубопроводы, сосуды высокого давления, котлы, самолеты, транспортные средства и мосты в таких отраслях промышленности, как национальная оборона, судостроение, нефтяная, химическая, машиностроительная, аэрокосмическая и строительная, а также внутренних дефектов и внутреннего качества различных легких металлов, резины, керамики и т. д.

Ориентатор рентгеновского кристалла работает по принципу рентгеновской дифракции. Высокое напряжение, генерируемое высоковольтным трансформатором, воздействует на рентгеновскую трубку, производя рентгеновские лучи. Когда рентгеновские лучи облучают образец, дифракция происходит, когда выполняется условие дифракции Брэгга (n λ=2dsin θ). Среди них λ — длина волны рентгеновских лучей, d — расстояние между атомными плоскостями внутри кристалла, а θ — угол между падающими рентгеновскими лучами и кристаллической плоскостью. Линия дифракции принимается счетной трубкой и отображается на микроамперметре усилителя. При использовании монохроматора линия дифракции монохроматизируется, затем принимается счетчиком и отображается на микроамперметре усилителя, тем самым повышая точность измерений. Рентгеновский кристаллоориентатор позволяет точно и быстро определять угол резки природных и искусственных монокристаллов (пьезоэлектрических кристаллов, оптических кристаллов, лазерных кристаллов, полупроводниковых кристаллов) и оснащен режущим станком для направленной резки вышеуказанных кристаллов. Рентгеновский кристаллоориентатор является незаменимым инструментом для прецизионной обработки и изготовления кристаллических приборов. Рентгеновский кристаллоориентатор широко используется в исследовательской, обрабатывающей и производственной отраслях промышленности кристаллических материалов. Рентгеновский кристаллический ориентатор прост в эксплуатации, не требует профессиональных знаний или квалифицированных методов, отображает угол в цифровом виде, прост для наблюдения и снижает ошибки считывания. Дисплей рентгеновского кристаллического ориентационного прибора может быть обнулён в любом положении, что позволяет легко отображать значение отклонения угла чипа. Двойной угловой измерительный прибор может работать одновременно, что повышает эффективность. Рентгеновский кристаллический ориентатор имеет специальный интегратор с пиковым усилением, что повышает точность обнаружения. Интеграция рентгеновской трубки и высоковольтного кабеля повышает надежность высокого напряжения. Высоковольтный детектор использует модуль высокого напряжения постоянного тока и плату образца вакуумного всасывания, что повышает точность и скорость измерения угла. В целом рентгеновский ориентатор кристаллов представляет собой прецизионный прибор, работающий на принципе рентгеновской дифракции, который обеспечивает важную техническую поддержку для исследования кристаллических материалов и связанных с ними приложений за счет точного измерения угла среза кристаллов.