
- дома
- >
- новости
- >
- Новости компании
- >
Hовости
Рентгеновский облучатель может генерировать высокоэнергетические рентгеновские лучи для облучения клеток или мелких животных. Используется для различных фундаментальных и прикладных исследований. На протяжении всей истории использовались радиоактивные изотопные облучатели, которые требовали транспортировки образцов в основную установку облучения. Сегодня в лабораториях можно установить более компактное, безопасное, простое и недорогое рентгеновское облучательное оборудование для удобного и быстрого облучения клеток.
Высокотемпературные принадлежности предназначены для изучения изменений кристаллической структуры образцов при высокотемпературном нагреве, а также изменений во взаимном растворении различных веществ при высокотемпературном нагреве.
Рентгеновский абсорбционный спектрометр тонкой структуры (XAFS) — мощный инструмент для изучения локальной атомной или электронной структуры материалов, широко используемый в таких популярных областях, как катализ, энергетика и нанотехнологии.
Рентгеновский кристаллоанализатор серии ТДФ — это крупногабаритный аналитический прибор, используемый для изучения внутренней микроструктуры веществ. Он в основном используется для ориентации монокристаллов, дефектоскопии, определения параметров решетки, определения остаточных напряжений, изучения структуры пластин и стержней, изучения структуры неизвестных веществ и дислокаций монокристаллов.
Высокомощный рентгеновский дифрактометр (настольный Рентгенодифракционный анализ) ТДМ-20 в основном используется для фазового анализа порошков, твердых веществ и подобных пастообразных материалов. Принцип рентгеновской дифракции может использоваться для качественного или количественного анализа, анализа кристаллической структуры и других поликристаллических материалов, таких как порошковые образцы и образцы металлов. Он широко используется в таких отраслях, как промышленность, сельское хозяйство, национальная оборона, фармацевтика, горнодобывающая промышленность, безопасность пищевых продуктов, нефть, образование и научные исследования.
Рентгеновский дифрактометр в основном используется для качественного и количественного анализа фаз, анализа кристаллической структуры, анализа структуры материалов, анализа ориентации кристаллов, определения макроскопического или микроскопического напряжения, определения размера зерна, определения кристалличности и т. д. образцов порошка, блока или пленки. Он произведен компанией Даньдун Тонгда Технологии Ко., ООО. и использует импортное управление Сименс ПЛК, что делает рентгеновский дифрактометр ТД-3500 обладающим характеристиками высокой точности, высокой достоверности, хорошей стабильности, длительного срока службы, простоты обновления, простоты эксплуатации и интеллекта, а также может гибко адаптироваться к анализу испытаний и исследованиям в различных отраслях промышленности!
Высокоразрешающий рентгеновский дифрактометр серии ТД-3700 является новым членом серии ТД, оснащенным различными высокопроизводительными детекторами, такими как высокоскоростные одномерные матричные детекторы, двумерные детекторы, СДД-детекторы и т. д. Он объединяет быстрый анализ, удобное управление и безопасность пользователя. Модульная аппаратная архитектура и настраиваемая программная система достигают идеального сочетания, делая его частоту отказов чрезвычайно низкой, антиинтерференционные характеристики хорошими и гарантируя долгосрочную стабильную работу высоковольтного источника питания.
Рентгеновский монокристаллический дифрактометр ТД-5000 в основном используется для определения трехмерной пространственной структуры и плотности электронного облака кристаллических веществ, таких как неорганические, органические и металлические комплексы, а также для анализа структуры специальных материалов, таких как двойникование, несоразмерные кристаллы, квазикристаллы и т. д. Определите точное трехмерное пространство (включая длину связи, угол связи, конфигурацию, конформацию и даже плотность электронов связи) новых молекул соединений (кристаллических) и фактическое расположение молекул в решетке; Он может предоставить информацию о параметрах кристаллической ячейки, пространственной группе, молекулярной структуре кристалла, межмолекулярных водородных связях и слабых взаимодействиях, а также структурную информацию, такую как молекулярная конфигурация и конформация. Он широко используется в аналитических исследованиях в химической кристаллографии, молекулярной биологии, фармакологии, минералогии и материаловедении.
Рентгеновские трубки устройство, используемое для генерации рентгеновских лучей, широко используется в лабораторных аналитических приборах, таких как рентгеновские дифрактометры, например, для медицинской визуализации, промышленных испытаний и научных исследований. В промышленной сфере они используются для обнаружения дефектов внутри материалов, таких как сварные швы, трещины и т. д. В научных исследованиях рентгеновские трубки используются для изучения структуры и свойств веществ.
Переносная рентгеновская испытательная машина для сварки неразрушающий контроль в основном подходит для таких отраслей промышленности, как национальная оборона, судостроение, нефтяная, химическая, машиностроительная, аэрокосмическая и строительная, для проверки качества обработки и сварки материалов и компонентов, таких как корпуса судов, трубопроводы, сосуды высокого давления, котлы, самолеты, транспортные средства и мосты, а также внутренних дефектов и внутреннего качества различных легких металлов, резины, керамики и т. д.
Автоматический сменщик образцов приводится в действие импортным шаговым двигателем и управляется импортным программируемым логическим контроллером (ПЛК) Сименс, что устраняет необходимость в ручной замене образцов. Система автоматически непрерывно измеряет образцы и автоматически сохраняет данные. Шесть образцов могут быть загружены одновременно для непрерывного измерения.
Параллельное оптическое измерительное устройство для пленки увеличивает длину решетчатой пластины для фильтрации большего количества рассеянных линий, что позволяет снизить влияние сигнала подложки на результаты и повысить интенсивность сигнала пленки.