Рентгеновский кристаллоанализатор серии ТДФ — это крупногабаритный аналитический прибор, используемый для изучения внутренней микроструктуры веществ. Он в основном используется для ориентации монокристаллов, дефектоскопии, определения параметров решетки, определения остаточных напряжений, изучения структуры пластин и стержней, изучения структуры неизвестных веществ и дислокаций монокристаллов. Рентгеновский кристаллоанализатор — это прецизионный прибор, использующий принцип рентгеновской дифракции для анализа и определения внутренней структуры и состава веществ. 1. Принцип работы рентгеновского кристаллоанализатора: Анализатор рентгеновских кристаллов основан на законе Брэгга, который гласит, что при облучении кристалла рентгеновскими лучами происходит дифракция под определенным углом, образуя дифракционные пятна или пики. Измеряя углы и интенсивности этих дифракций, можно сделать вывод о внутренней структуре и составе кристалла. 2. Составные части рентгеновского кристаллоанализатора: (1) Источник рентгеновского излучения рентгеновского кристаллического анализатора: устройство, генерирующее рентгеновские лучи, обычно рентгеновская трубка, состоящая из нити накала, мишенного материала и высоковольтного источника питания. Рентгеновская трубка рентгеновского кристалл-анализатора: Номинальная мощность: 2,4 кВт; Размер фокуса (мм2): Точечный фокус (1 × 1) Линейный фокус (1 × 10); Материалы мишени: Cu, Ко, Фе, Кр, Мо, W и т.д. Высоковольтный генератор рентгеновского кристаллоанализатора (управляется импортным ПЛК): Напряжение трубки: 10-60 кВ; Ток трубки: 2-60 мА; Стабильность напряжения и тока трубки ≤ ± 0,005%; Номинальная выходная мощность: 3 кВт. Высоковольтный кабель для рентгеновского кристаллического анализатора: Диэлектрическое напряжение ≥ 100 кВ; Длина: 2м. (2) Спектральный кристалл рентгеновского кристалл-анализатора: используется для разделения рентгеновских лучей с различными длинами волн, является ключевым компонентом для достижения спектрального разделения. (3) Детектор рентгеновского кристаллического анализатора: используется для обнаружения рентгеновских лучей, рассеянных образцом, и преобразования их в электрические сигналы для последующей обработки. (4) Прибор для измерения угла рентгеновского кристаллического анализатора: прибор, используемый для точного измерения угла дифракции, который является одним из важных компонентов, обеспечивающих точность измерений. (5) Система управления и обработки данных рентгеновского кристаллического анализатора: используется для управления всем процессом анализа, обработки и анализа собранных данных. Современные приборы обычно оснащены компьютерным программным обеспечением для упрощения процесса анализа данных. 3. Характеристики рентгеновского кристаллоанализатора: В рентгеновском кристаллическом анализаторе серии ТДФ используется вертикальная трубчатая гильза, и одновременно можно использовать четыре окна. Рентгеновский кристаллический анализатор серии ТДФ использует импортную технологию управления ПЛК с высокой точностью управления и хорошими характеристиками защиты от помех, что позволяет добиться надежной работы системы. ПЛК управляет высоковольтным переключателем, подъемом и имеет функцию автоматической тренировки рентгеновской трубки, эффективно продлевая срок службы рентгеновской трубки и прибора. 4. Области применения рентгеновского кристаллоанализатора Материаловедение: исследование кристаллической структуры, фазовых переходов, дефектов и т. д. материалов для оказания важной поддержки при разработке новых материалов. Химия: включает кристаллохимию, медицинскую химию и т. д., может использоваться для анализа структур соединений, изучения механизмов химических реакций и т. д. Биология: используется для структурного анализа биомолекул, разработки и скрининга лекарственных препаратов и т. д., имеет большое значение для понимания жизненных процессов и механизмов заболеваний. Наука об окружающей среде играет важную роль в разработке катализаторов, характеристике наноматериалов и анализе загрязняющих веществ. Геология: Идентификация минералов, исследование генезиса горных пород, геохронология и другие области исследований также полагаются на рентгеновские анализаторы кристаллов. Рентгеновский анализатор кристаллов является мощным и широко используемым аналитическим инструментом, который играет незаменимую роль во многих областях. С постоянным развитием технологий и непрерывным развитием рынка его производительность и область применения будут и дальше улучшаться и расширяться.

Настольный рентгеновский дифракционный прибор ТДМ-10 представляет собой прибор, используемый для анализа фазовой структуры материалов, который может быть оснащен сцинтилляционными/пропорциональными/линейными матричными детекторами. 1. Принцип работы настольного рентгеновского дифракционного прибора ТДМ-10: на основе закона Брэгга, когда монохроматический рентгеновский пучок падает на кристалл, если выполняется условие дифракции Брэгга (n λ=2dsin θ, где λ - длина волны рентгеновского луча, d - межплоскостное расстояние, а θ - угол падения), атомы или молекулы в кристалле будут рассеиваться и интерферировать с рентгеновским лучом, образуя определенную дифракционную картину. Измеряя интенсивность дифракции под разными углами, можно получить структурную информацию о кристалле. 2. Характеристики настольного рентгеновского дифракционного прибора ТДМ-10: Высокое разрешение настольного рентгеновского дифракционного прибора позволяет точно измерять кристаллическую структуру веществ, что имеет решающее значение для изучения сложных смесей или поиска поликристаллических и следовых фаз с низким содержанием. Неразрушающий анализ настольных рентгеновских дифракционных приборов: в процессе тестирования образец не повреждается, и его можно оставить в исходном состоянии для дальнейшего тестирования или использования. Эксплуатация настольного рентгеновского порошкового дифракционного оборудования проста: современное настольное рентгеновское порошковое дифракционное оборудование обычно имеет функции автоматизации и интеллекта, что делает эксплуатацию более удобной и снижает требования к профессиональным знаниям и навыкам оператора. Универсальность настольного рентгеновского порошкового дифракционного оборудования: рентгеновское порошковое дифракционное оборудование может выполнять различные виды анализа, такие как качественный и количественный фазовый анализ, анализ постоянной решетки, анализ напряжений и т. д. 3. Технические параметры настольного рентгеновского порошкового дифракционного комплекса ТДМ-10: Настольный рентгеновский дифракционный аппарат имеет небольшой объем; Высокочастотный и высоковольтный источник питания снижает общее энергопотребление аппарата; Можно быстро калибровать и тестировать образцы; Простое управление схемой, легко отлаживать и устанавливать; Точность измерения положения дифракционного пика составляет 0,001°; Детектор: сцинтилляционный, пропорциональный, линейный; Диапазон 2 θ:- 10°~150° Мощность: 600 Вт; Максимальное напряжение: 40 кВ; Максимальный ток: 15 мА; Рентгеновские трубки: гофрированные керамические трубки, металлокерамические трубки, стеклянные трубки. 4. Области применения настольного рентгеновского дифракционного аппарата ТДМ-10: Материаловедение: используется для изучения кристаллической структуры, фазового состава, размера зерна, кристалличности и т. д. металлов, керамики, полупроводников и других материалов, помогая материаловедам понимать свойства и характеристики материалов. В области химии рентгеновская дифракционная машина может использоваться в промышленности по производству катализаторов, цемента, фармацевтических препаратов и других продуктов для идентификации фаз в неизвестных образцах, а также для количественного анализа известных фаз в смешанных образцах. Геология: Проведение фазового анализа руд, горных пород и т. д. для определения их минерального состава и структуры. Науки об окружающей среде: используются для анализа минерального состава и форм загрязняющих веществ в образцах окружающей среды, таких как почва и отложения. Пищевая промышленность: обнаружение кристаллических компонентов, добавок и т. д. в продуктах питания. Настольный рентгеновский дифракционный аппарат ТДМ-10 представляет собой мощный аналитический прибор, имеющий важное прикладное значение в различных областях.

Высокомощный рентгеновский дифрактометр ТДМ-20 (настольный Рентгенодифракционный анализ) в основном используется для фазового анализа порошков, твердых веществ и подобных пастообразных материалов. Принцип рентгеновской дифракции может использоваться для качественного или количественного анализа, анализа кристаллической структуры и других поликристаллических материалов, таких как порошковые образцы и образцы металлов. Настольный Рентгенодифракционный анализ широко используется в таких отраслях, как промышленность, сельское хозяйство, национальная оборона, фармацевтика, минералы, безопасность пищевых продуктов, нефть, образование и научные исследования. 1. Основные характеристики настольного рентгеновского дифрактометра ТДМ-20 (настольный рентгеновский дифрактометр)： Загрузка нового высокопроизводительного матричного детектора значительно улучшила общую производительность устройства при небольшом размере и весе; Вся машина интегрирована в размер рабочего стола (обычно ≤ 1 м³), что экономит место и подходит для небольших лабораторий или учебных помещений; Рабочая мощность высокочастотного и высоковольтного источника питания может достигать 1600 Вт; Быстрый анализ, возможность быстрой калибровки и тестирования образцов; Благодаря использованию высокопроизводительных детекторов (например, двухмерных детекторов) и оптимизации оптического пути сканирование образцов может быть завершено за несколько минут; Простое управление схемой, легко отлаживать и устанавливать; Повторяемость угла может достигать 0,0001; Низкое энергопотребление и безопасность, использование маломощных рентгеновских трубок (например, ≤ 50 Вт), оснащенных многократной защитой от излучения, нет необходимости в специальных экранированных комнатах; Удобство для пользователя, оснащено программным обеспечением автоматизации, поддерживающим работу в один клик, визуализацию данных в реальном времени и сравнение со стандартными базами данных (например, МКДД PDF). 2. Типичные сценарии применения настольного рентгеновского дифрактометра ТДМ-20 (Настольный Рентгенодифракционный анализ): Материаловедение рентгеновского дифрактометра (настольный рентгеновский дифрактометр): быстрая идентификация кристаллической структуры и фазового состава (например, металлов, керамики, полимеров). Материаловедение рентгеновского дифрактометра (настольный рентгеновский дифрактометр): испытание кристаллической чистоты сырья или готовой продукции на промышленных объектах (например, фармацевтических препаратов и материалов для аккумуляторов). Материаловедение рентгеновского дифрактометра (настольный рентгеновский дифрактометр): экспериментальное обучение студентов, наглядно демонстрирующее принцип дифракции Брэгга. Материаловедение рентгеновского дифрактометра (настольный рентгеновский дифрактометр): анализ минерального состава культурных реликвий или предварительный скрининг полевых образцов. 3.Технические параметры настольного рентгеновского дифрактометра ТДМ-20 (настольный рентгеновский дифрактометр): Проект: диапазон параметров Источник рентгеновского излучения: мишень Cu (λ=1,54 Å), мишень Мо опционально. Напряжение/ток: 10-50 кВ/0,1-2 мА Диапазон измерения угла: 0-90 ° 2θ (некоторые модели могут быть расширены) Угловое разрешение:≤ 0,01 ° Тип детектора: одномерный линейный или двумерный поверхностный детектор Размер образца: порошок (миллиграммы), пленка или блок 4. Преимущества и ограничения настольного рентгеновского дифрактометра ТДМ-20 (настольный рентгеновский дифрактометр): Преимущества: низкая стоимость (примерно 1/3–1/2 стоимости большого Рентгенодифракционный анализ), простота обслуживания. Поддержка неразрушающего анализа и простой подготовки образцов (например, непосредственное внесение порошка). ограничения: Разрешение и чувствительность немного ниже, чем у высококлассных устройств, и могут не подходить для сверхтонкого структурного анализа. Испытания в экстремальных условиях (например, эксперименты на месте при высокой температуре/высоком давлении) обычно невозможны.

Рентгеновский дифрактометр ТД-3500 в основном используется для качественного и количественного анализа фаз, анализа кристаллической структуры, анализа структуры материалов, анализа ориентации кристаллов, определения макроскопического или микроскопического напряжения, определения размера зерна, определения кристалличности и т. д. образцов порошка, блока или пленки. Рентгеновский дифрактометр ТД-3500, произведенный компанией Даньдун Тонгда Технологии Ко., ООО., использует импортное управление Сименс ПЛК, что делает рентгеновский дифрактометр ТД-3500 обладающим характеристиками высокой точности, высокой достоверности, хорошей стабильности, длительного срока службы, простоты модернизации, простоты эксплуатации и интеллекта, а также может гибко адаптироваться к анализу испытаний и исследованиям в различных отраслях промышленности!   Рентгеновский дифрактометр ТД-3500 оснащен рентгеновским генератором (высокочастотный и высоковольтный твердотельный генератор, опционально генератор промышленной частоты), который имеет высокую степень автоматизации, чрезвычайно низкий уровень отказов, сильную помехоустойчивость, хорошую стабильность системы и может продлить срок службы всей машины. ПЛК и компьютерный интерфейс автоматически управляют открытием и закрытием светового затвора, автоматически управляют повышением и понижением давления в трубке и потоком в трубке, а также имеют функцию автоматического обучения рентгеновских трубок. Онлайн-мониторинг в реальном времени с использованием сенсорного экрана для отображения состояния прибора. Рентгеновский дифрактометр ТД-3500 использует усовершенствованный блок управления записью, схему управления ПЛК, усовершенствованную технологию управления ПЛК и сенсорный экран с истинным цветом для достижения взаимодействия человека и компьютера. Аппаратное обеспечение системы использует модульную концепцию проектирования, что значительно повышает помехоустойчивость системы и делает ее более стабильной. Благодаря использованию импортных схем управления Сименс ПЛК с высокой точностью и автоматизацией, система может работать стабильно в течение длительного времени без каких-либо сбоев. Система рентгеновского дифрактометра ТД-3500 имеет следующие преимущества по сравнению с микроконтроллерными схемами, используемыми другими компаниями: Простое управление схемой, простота отладки и установки; Благодаря модульной конструкции обслуживание системы очень простое, и пользователи могут ремонтировать и отлаживать ее самостоятельно без необходимости присутствия технических специалистов производителя; Использование усовершенствованного полноцветного сенсорного экрана для обеспечения взаимодействия человека с компьютером, с полными функциями защиты и очень удобным управлением, высокотрехмерный анимационный дизайн более гуманизирован, интуитивно понятен и удобен для операторов при использовании и оценке информации о неисправностях и т. д.; Значительно улучшена стабильность подсчета системы, тем самым повышая общую стабильность всей машины; Благодаря большой расширяемости ПЛК, можно легко расширять различные функциональные аксессуары без необходимости добавления каких-либо дополнительных аппаратных схем. Детектор рентгеновского дифрактометра ТД-3500 Пропорциональный детектор (ПД) или сцинтилляционный детектор (СД). Высокоточный прибор для измерения угла рентгеновского дифрактометра ТД-3500 Измерительный прибор серии ТД использует импортную высокоточную подшипниковую передачу, а управление движением дополняется высокоточной полностью замкнутой векторной сервосистемой привода. Интеллектуальный привод включает в себя 32-битный РИСК-микропроцессор и магнитный энкодер высокого разрешения, который может автоматически исправлять чрезвычайно малые ошибки положения движения, обеспечивая высокую точность и достоверность результатов измерения. Воспроизводимость угла может достигать 0,0001 градуса, а меньшие углы шага могут достигать 0,0001 градуса. Области применения рентгеновского дифрактометра ТД-3500: Материаловедение: используется для изучения ключевой информации, такой как кристаллическая структура, поведение фазовых переходов и текстура материалов. Химический анализ: может использоваться для качественного или количественного анализа органических, неорганических, полимерных соединений и других веществ. Геология: помогает людям понять формирование месторождений полезных ископаемых, эволюцию Земли и многое другое. Биофармацевтика: определение кристаллической структуры лекарственных препаратов, оптимизация лекарственных формул и повышение эффективности лекарственных препаратов. Рентгеновский дифрактометр — мощный аналитический инструмент, широко используемый во многих областях. Точно измеряя угол дифракции и интенсивность, он может предоставить подробную информацию о кристаллической структуре и составе материалов.

Высокоразрешающий рентгеновский дифрактометр -3700 является новым членом серии , оснащенным различными высокопроизводительными детекторами, такими как высокоскоростные одномерные матричные детекторы, двумерные детекторы, -детекторы и т. д. Он объединяет быстрый анализ, удобное управление и безопасность пользователя. Модульная аппаратная архитектура и настраиваемая программная система достигают идеального сочетания, делая его интенсивность отказов чрезвычайно низкой, антиинтерференционные характеристики хорошими и гарантируя долгосрочную стабильную работу высоковольтного источника питания. Высокоразрешающий рентгеновский дифрактометр -3700 поддерживает не только обычный метод сканирования дифракционных данных, но и метод сканирования данных пропускания. Разрешение режима пропускания намного выше, чем у режима дифракции, что подходит для структурного анализа и других областей. Режим дифракции имеет сильные дифракционные сигналы и больше подходит для рутинной идентификации фаз в лаборатории. Кроме того, в режиме пропускания образец порошка может находиться в следовых количествах, что подходит для сбора данных в случаях, когда размер образца относительно мал и не соответствует требованиям метода дифракции для подготовки образца. Матричный детектор полностью использует технологию смешанного счета фотонов, без шума, с быстрым сбором данных и более чем в десять раз большей скоростью, чем у сцинтилляционных детекторов. Он имеет превосходное энергетическое разрешение и может эффективно удалять эффекты флуоресценции. Многоканальные детекторы имеют более быстрое время считывания и достигают лучшего соотношения сигнал/шум. Система управления детектором с электронным стробированием и внешним запуском эффективно завершает синхронизацию системы. Принцип работы рентгеновского дифрактометра высокого разрешения -3700: Используя флуктуацию рентгеновских лучей, когда они облучают кристалл, атомы или ионы в кристалле действуют как рассеивающие центры, рассеивая рентгеновские лучи во всех направлениях. Из-за регулярности расположения атомов в кристаллах эти рассеянные волны интерферируют друг с другом и усиливают друг друга в определенных направлениях, образуя дифракцию. Измеряя угол дифракции и интенсивность дифракции, можно получить структурную информацию о кристалле. Основными особенностями рентгеновского дифрактометра высокого разрешения -3700 являются: (1) Простая в эксплуатации система сбора одним щелчком; (2) Модульная конструкция, подключаемые и работающие принадлежности, нет необходимости в калибровке; (3) Онлайн-мониторинг в режиме реального времени с использованием сенсорного экрана для отображения состояния прибора; (4) Электронное устройство блокировки свинцовой двери, двойная защита, обеспечивающая безопасность пользователя; (5) Высокочастотный и высоковольтный рентгеновский генератор со стабильной и надежной работой; (6) Усовершенствованный блок управления записью с высокой помехоустойчивостью. Высокая точность рентгеновского дифрактометра высокого разрешения -3700 позволяет проводить высокоточный анализ кристаллической структуры материалов, например, точно определять постоянные решетки, параметры ячейки и т. д. Точность измерения углов может достигать ±0,0001°. Высокое разрешение рентгеновского дифрактометра -3700 позволяет четко различать соседние дифракционные пики, точно анализировать дифракционную информацию различных кристаллических плоскостей для сложных кристаллических структур и выявлять микроструктурные характеристики материалов. Неразрушающий характер рентгеновского дифрактометра высокого разрешения -3700: он не повреждает образец в процессе тестирования, и образец можно сохранять в исходном состоянии для многократных испытаний, что особенно важно для ценных или труднодоступных образцов. Экспресс-анализ на рентгеновском дифрактометре высокого разрешения -3700: Современные рентгеновские дифрактометры высокого разрешения обладают быстрыми возможностями обнаружения и могут выполнять испытания образцов за короткий промежуток времени, что повышает эффективность работы. 3. Области применения рентгеновского дифрактометра высокого разрешения ТД-3700: Полупроводниковые материалы: используются для определения качества кристаллов полупроводниковых монокристаллических материалов и эпитаксиальных тонких пленок, анализа несоответствия кристаллической решетки, дефектов и другой информации, что помогает оптимизировать производительность полупроводниковых приборов. Сверхпроводящие материалы: изучение кристаллической структуры и процесса фазового перехода сверхпроводящих материалов с целью создания основы для оптимизации сверхпроводящих свойств. Наноматериалы: анализ размера зерна, кристаллической структуры, микроскопической деформации и т. д. наноматериалов помогает исследователям лучше понять их свойства и области применения. Другие области: Он также широко используется в исследованиях и контроле качества металлических материалов, керамических материалов, полимерных материалов, биоматериалов и других областях. Высокоточный рентгеновский дифрактометр с высоким разрешением — это высокоточный, неразрушающий и быстрый аналитический инструмент с важным прикладным значением во многих областях.

1. Функция монокристаллического дифрактометра: Рентгеновский монокристаллический дифрактометр ТД-5000 в основном используется для определения трехмерной пространственной структуры и плотности электронного облака кристаллических веществ, таких как неорганические, органические и металлические комплексы, а также для анализа структуры специальных материалов, таких как двойникование, несоразмерные кристаллы, квазикристаллы и т. д. Определите точное трехмерное пространство (включая длину связи, угол связи, конфигурацию, конформацию и даже плотность электронов связи) новых молекул соединений (кристаллических) и фактическое расположение молекул в решетке; рентгеновский монокристаллический дифрактометр может предоставить информацию о параметрах кристаллической ячейки, пространственной группе, молекулярной структуре кристалла, межмолекулярных водородных связях и слабых взаимодействиях, а также структурную информацию, такую ​​как молекулярная конфигурация и конформация. Рентгеновский монокристаллический дифрактометр широко используется в аналитических исследованиях в химической кристаллографии, молекулярной биологии, фармакологии, минералогии и материаловедении. Рентгеновский монокристаллический дифрактометр — это высокотехнологичный продукт, финансируемый Министерством науки и технологий Китая в рамках Национального проекта по разработке крупных научных приборов и оборудования под руководством компании Даньдун Тонгда Технологии Ко., ООО., который заполняет пробел в разработке и производстве монокристаллических дифрактометров в Китае. 2. Характеристики монокристаллического дифрактометра: Вся машина использует технологию управления с программируемым логическим контроллером (ПЛК); Простая в эксплуатации система сбора одним щелчком; Модульная конструкция, аксессуары «затыкать и играть», нет необходимости в калибровке; Онлайн-мониторинг в режиме реального времени через сенсорный экран, отображение состояния прибора; Мощный рентгеновский генератор со стабильной и надежной работой; Электронное устройство блокировки свинцовой двери, двойная защита. 3. Точность монокристаллического дифрактометра: 2 Точность повторяемости угла θ: 0,0001 °; Минимальный шаг угла: 0,0001 ° Диапазон регулирования температуры: 100К-300К; Точность регулирования: ± 0,3К 4. Прибор для измерения угла, используемый в монокристаллическом дифрактометре: Использование техники четырех концентрических окружностей гарантирует, что центр инструмента для измерения угла остается неизменным независимо от любого вращения, достигая цели получения наиболее точных данных и получения более высокой полноты. Четыре концентрических окружности являются необходимым условием для сканирования обычного монокристаллического дифрактометра. 5. Высокоскоростной двумерный детектор, используемый в рентгеновском монокристаллическом дифрактометре: Детектор объединяет ключевые технологии подсчета отдельных фотонов и смешанную пиксельную технологию для достижения наилучшего качества данных, обеспечивая при этом низкое энергопотребление и низкое охлаждение. Он применяется в различных областях, таких как синхротронное излучение и обычные лабораторные источники света, эффективно устраняя помехи шума считывания и темнового тока. Смешанная пиксельная технология может напрямую обнаруживать рентгеновские лучи, облегчая различение сигнала и эффективно предоставляя высококачественные данные. 6. Низкотемпературное оборудование, используемое в рентгеновском монокристаллическом дифрактометре: Данные, собранные с помощью низкотемпературного оборудования, дают более идеальные результаты. С помощью низкотемпературного оборудования можно обеспечить более выгодные условия, чтобы нежелательные кристаллы могли получить идеальные результаты, а идеальные кристаллы могли бы получить еще более идеальные результаты. Диапазон регулирования температуры: 100К~300К; Точность регулирования: ± 0,3К; Расход жидкого азота: 1,1~2 литра/час; 7. Дополнительный аксессуар, многослойная пленочная фокусирующая линза: Мощность рентгеновской трубки: 30 Вт или 50 Вт и т.д.; Расходимость: 0,5~1 мрад; Материал мишени рентгеновской трубки: мишень Мо/Cu; Фокусное пятно: 0,5~2 мм.

Спектр тонкой структуры рентгеновского поглощения (XAFS) — мощный инструмент для изучения локальной атомной или электронной структуры материалов, широко используемый в таких популярных областях, как катализ, энергетика и нанотехнологии. Принцип тонкой структуры рентгеновского абсорбционного спектра (XAFS): Тонкая структура поглощения рентгеновских лучей Спектр относится к спектрам высокого разрешения вблизи характерных краев атомных электронов, поглощающих рентгеновские лучи. Когда энергия рентгеновских лучей такая же, как энергия возбуждения электронов внутренней оболочки измеряемого элемента, они будут сильно поглощаться, что приведет к пределу поглощения (или краю поглощения). Вблизи края поглощения, из-за многократного рассеяния и других причин, коэффициент поглощения рентгеновских лучей будет демонстрировать колебательные явления, а именно тонкую структуру. 2. Основные преимущества рентгеновского абсорбционного тонкоструктурного спектра (XAFS): (1) Самый высокий световой поток продукта, с потоком фотонов, превышающим 1000000 фотонов/сек/эВ, и спектральной эффективностью, в несколько раз превышающей другие продукты; Получение качества данных, эквивалентного синхротронному излучению (2) Отличная стабильность, стабильность интенсивности монохроматического света источника света лучше 0,1%, а повторный дрейф энергии составляет менее 50 мэВ. (3) Предел обнаружения 1%, высокий световой поток, превосходная оптимизация оптического пути и превосходная стабильность источника света гарантируют, что высококачественные данные EXAFS могут быть получены даже при измеренном содержании элемента >1%. 3. Области применения XAFS: Промышленный катализ, материалы для хранения энергии, наноматериалы, экологическая токсикология, качественный анализ, анализ тяжелых элементов и т. д. 4. Основные особенности XAFS: (1) Короткий порядок: EXAFS зависит от ближних взаимодействий и не полагается на дальний порядок. XAFS можно использовать для изучения структуры неупорядоченных систем, таких как аморфные, жидкие, расплавленные и активные центры катализаторов. (2) Специфичность элементов: метод флуоресценции может быть использован для измерения образцов элементов с концентрацией вплоть до одной миллионной. Регулируя энергию падающего рентгеновского излучения, можно изучать соседние структуры атомов различных элементов в одном соединении. (3) Характеристики поляризации: поляризованные рентгеновские лучи можно использовать для измерения углов связи атомов и структур поверхности в ориентированных образцах. Спектр тонкой структуры рентгеновского поглощения, обладающий уникальными принципами, важными характеристиками и широкими областями применения, стал незаменимым и важным инструментом во многих областях, таких как материаловедение, каталитическая химия и энергетические исследования, обеспечивая надежную поддержку для углубленного изучения микроструктур материалов и электронных состояний.

Автоматическое устройство смены образцов, используемое в рентгеновских дифрактометрах, представляет собой устройство, предназначенное для автоматизированной замены образцов с целью повышения эффективности и точности экспериментов по рентгеновской дифракции. Приводимый в действие импортным шаговым двигателем и управляемый импортным программируемым логическим контроллером (ПЛК) Сименс, нет необходимости в ручной замене образцов. Система автоматически непрерывно измеряет образцы и автоматически сохраняет данные. Несколько образцов могут быть загружены одновременно для непрерывного измерения. Основными компонентами автоматического устройства смены образцов являются: Механизм перемещения образцов: обычно включает в себя конвейерную ленту, эластичную прижимную пластину и приводной двигатель, отвечающий за последовательное перемещение пластин с образцами для испытаний в положение извлечения. Механизм замены образца: обычно состоит из зажимных компонентов, компонентов привода и поворотного стола, может автоматически заменять пластину образца между позицией захвата конвейерной ленты и предметным столиком дифракционного прибора. Модуль датчика: такой как модуль фотоэлектрического датчика и модуль фоторезисторного датчика, используется для определения положения образца и рабочего состояния дифрактометра с целью управления модулем схемы для выполнения соответствующих управляющих действий. Модуль схемы управления: подключает и контролирует совместную работу вышеупомянутых механизмов и модулей для обеспечения точной и стабильной работы процесса автоматической смены образцов. Модуль питания: обеспечивает питание всего устройства автоматической смены образцов. 2. Принцип работы автоматического устройства смены образцов: После того, как дифрактометр завершает тестирование текущего образца, сенсорный модуль обнаруживает изменение состояния света затвора дифрактометра и передает сигнал в модуль схемы управления. После получения сигнала модуль схемы управления активирует механизм замены образца, чтобы переместить его в положение захвата конвейерной ленты и на столик образца дифракционного прибора, а также зажимает пластины образца в двух положениях соответственно с помощью зажимных частей. Затем механизм замены образца меняет местами две пластины образца, завершая операцию замены образца. Затем запускается конвейерная лента и перемещает следующую плату образца в позицию захвата, ожидая следующей смены образца. 3. Преимущества и характеристики автоматических сменщиков образцов: • Повышение эффективности тестирования: он может автоматически заменять образцы в процессе тестирования дифракционного прибора без ручного вмешательства, что значительно сокращает цикл тестирования и повышает эффективность работы. • Уменьшение человеческого фактора: исключение эксплуатационных ошибок и ошибок, которые могут возникнуть при ручной замене образцов, а также повышение точности и надежности результатов испытаний. • Защита прибора: снижает вероятность выхода прибора из строя из-за частого ручного открытия и закрытия дверцы дифрактометра и продлевает срок службы дифрактометра. • Подходит для тестирования большого количества образцов: он может загружать несколько образцов для удовлетворения потребностей непрерывного тестирования большого количества образцов и подходит для высокопроизводительного обнаружения в таких областях, как научные исследования и производство. Подводя итог, можно сказать, что автоматическое устройство смены образцов, используемое в рентгеновских дифракционных приборах, представляет собой эффективное и точное автоматизированное оборудование, которое обеспечивает множество удобств и преимуществ для экспериментов по рентгеновской дифракции, помогая повысить эффективность и качество эксперимента.

Графитовый изогнутый кристаллический монохроматор, используемый в рентгеновских дифрактометрах, является ключевым компонентом для выбора определенных длин волн рентгеновских лучей и удаления нежелательного излучения, такого как линии K β и флуоресцентные рентгеновские лучи. Графитовый изогнутый кристаллический монохроматор представляет собой компонент, установленный перед детектором рентгеновского излучения, который монохроматизирует рентгеновские лучи, проходящие через приемную щель, и обнаруживает только характеристические рентгеновские лучи Kα в рентгеновском спектре. Используя это устройство, можно полностью устранить непрерывное рентгеновское излучение, характеристическое рентгеновское излучение K β и флуоресцентное рентгеновское излучение, что позволяет проводить рентгеновский дифракционный анализ с высоким отношением сигнал/шум. Когда рентгеновские трубки с медной мишенью используются в сочетании с соответствующими монохроматорами, можно устранить флуоресцентные рентгеновские лучи, генерируемые образцами на основе Мн, Фе, Ко, Ни, что делает их пригодными для анализа различных образцов. принцип работы: Дифракция Брэгга: согласно закону Брэгга, когда рентгеновские лучи падают на кристалл под определенным углом, если 2dsin θ=n λ (где d — межплоскостное расстояние кристалла, θ — угол падения, λ — длина волны рентгеновского луча, а n — целое число), произойдет дифракция. Этот принцип используется для регулировки ориентации кристалла таким образом, чтобы через него могли проходить только рентгеновские лучи, соответствующие определенным условиям, тем самым достигая выбора длин волн рентгеновского излучения. Энергетическое разрешение: Благодаря межплоскостному расстоянию и структурным характеристикам графитовых кристаллов, он может эффективно различать рентгеновские лучи разных энергий. Графитовый изогнутый кристаллический монохроматор с высоким энергетическим разрешением может дополнительно уменьшить нежелательное излучение и улучшить качество дифракционных данных. Конструктивные особенности: Изогнутая форма: графитовый изогнутый кристаллический монохроматор обычно имеет изогнутую форму, которая помогает фокусировать рентгеновские лучи и улучшить эффективность дифракции. В то же время изогнутая форма также помогает снизить нагрузку на кристалл, улучшить его стабильность и срок службы. Графит высокой чистоты: Графитовый изогнутый кристалл-монохроматор обычно изготавливается из графитовых материалов высокой чистоты, чтобы обеспечить их хорошие дифракционные характеристики и стабильность. Высокая эффективность дифракции: прибор обладает высокой эффективностью дифракции, что позволяет эффективно выбирать рентгеновские лучи нужной длины волны, тем самым улучшая качество дифракционных данных. Широкий диапазон длин волн: может работать в широком диапазоне длин волн и подходит для различных типов экспериментов по рентгеновской дифракции. Хорошая стабильность: Благодаря использованию графитового материала высокой чистоты он обладает хорошей стабильностью и длительным сроком службы. Области применения: Материаловедение: В области материаловедения рентгеновские дифрактометры широко используются для изучения кристаллической структуры, фазового состава и других свойств материалов. Графитовый изогнутый кристаллический монохроматор, как важный компонент рентгеновского дифрактометра, обеспечивает важную техническую поддержку для исследований в области материаловедения. Физика: В области физики рентгеновские дифрактометры также используются для изучения микроструктуры и физических свойств вещества. Подводя итог, можно сказать, что монохроматор на основе изогнутого графитового кристалла, используемый в рентгеновских дифрактометрах, представляет собой эффективное и точное устройство для отбора и фильтрации рентгеновских лучей, обеспечивающее важную техническую поддержку экспериментов по рентгеновской дифракции.

Вращающийся держатель образца в рентгеновском дифрактометре является ключевым компонентом, используемым для точной регулировки и фиксации положения образца, образец может вращаться в своей собственной плоскости, что полезно для ошибок, вызванных крупными зернами. Для образцов с текстурой и кристаллографией вращающийся держатель образца обеспечивает хорошую воспроизводимость интенсивности дифракции и устраняет предпочтительную ориентацию. Принцип работы вращающегося держателя образца: При работе рентгеновского дифрактометра рентгеновские лучи высокой энергии, генерируемые источником рентгеновского излучения, облучают образец, закрепленный на вращающемся предметном столике. Вследствие особой кристаллической структуры и параметров решетки образца рентгеновские лучи будут подвергаться явлениям рассеяния, поглощения и дифракции при взаимодействии с образцом, где явления дифракции происходят в соответствии с требованиями уравнения Брэгга. Вращающийся держатель образца может вращаться на меньшие углы в соответствии с настройкой, позволяя образцу получать рентгеновское облучение под разными углами, тем самым получая дифракционные картины под разными углами. Таким образом, детектор может измерять интенсивность рентгеновского излучения после дифракции образца и преобразовывать ее в электрический сигнал для передачи на компьютер для обработки данных. Основная функция вращающегося держателя образцов: Метод вращения: ось β (плоскость образца) Скорость вращения: 1~60 об/мин Ширина малого шага: 0,1 º Режим работы: Вращение с постоянной скоростью для сканирования образца (шаговое, непрерывное) Преимущества вращающегося держателя образцов: Вращающийся держатель образца может повысить точность дифракционных данных: Для образцов с нерегулярной формой порошка или частиц, характеристика предпочтительной ориентации склонна возникать во время обычной подготовки порошковых образцов, что приводит к отклонениям в распределении интенсивности дифракции и влияет на точность анализа результатов дифракции. Вращение столика образца может перемещать образец в определенной форме в соответствующем пространстве, устраняя влияние предпочтительной ориентации в определенной степени, тем самым повышая точность дифракционных данных. Вращающийся держатель образца может адаптироваться к различным потребностям тестирования: способен адаптироваться к различным типам приборов для измерения угла рентгеновской дифракции, таким как приборы для измерения вертикального угла, маломощное компактное оборудование для порошковой дифракции и т. д., обеспечивая удобство для различных потребностей тестирования. А вращающийся держатель образца может соответствовать требованиям различных образцов и условий тестирования путем регулировки таких параметров, как скорость и управление. Вращающийся держатель образца может расширить аналитические возможности прибора: постоянно разрабатываются и применяются новые типы вращающихся столиков для образцов, например, некоторые столики для электрохимического рентгеновского дифракционного анализа в место, которые позволяют отслеживать и анализировать изменения материалов в различных средах или условиях в режиме реального времени, расширяя аналитические возможности рентгеновского дифракционного оборудования. Подводя итог, можно сказать, что вращающийся держатель образца в рентгеновском дифрактометре имеет решающее значение для точного получения информации о кристаллической структуре веществ. Вращающийся держатель образца может не только повысить точность дифракционных данных, но и адаптироваться к различным потребностям испытаний и расширить аналитические возможности прибора.

В рентгеновском дифрактометре многофункциональные интегрированные измерительные принадлежности являются важнейшим компонентом, который значительно повышает функциональность и гибкость прибора. Используется для анализа пленок на платах, блоках и подложках и может выполнять такие тесты, как определение кристаллической фазы, ориентации, текстуры, напряжения и структуры тонких пленок в плоскости. Базовый обзор многофункциональных интегрированных измерительных принадлежностей: Определение: Это общий термин для ряда дополнительных устройств или модулей, используемых в рентгеновском дифрактометре для расширения функций прибора, повышения точности и эффективности измерений. Назначение: Эти насадки позволяют рентгеновскому дифрактометру удовлетворять более широкий спектр экспериментальных потребностей и предоставлять более полную и точную информацию о структуре материалов. Функциональные характеристики многофункциональных интегрированных измерительных принадлежностей: Выполнить тестирование полярной диаграммы с использованием методов пропускания или отражения; Стресс-тестирование можно проводить с использованием метода параллельного наклона или метода того же наклона; Испытание тонких пленок (вращение образца в плоскости). Технические характеристики многофункциональных интегрированных измерительных принадлежностей: Высокая точность: обычно они используют передовые технологии датчиков и системы управления для обеспечения высокой точности и повторяемости измерений. Автоматизация: многие насадки поддерживают автоматизированные операции и могут быть легко интегрированы с хостом рентгеновского дифрактометра для выполнения измерений одним щелчком мыши. Модульная конструкция: позволяет пользователям выбирать и комбинировать различные вспомогательные модули в соответствии с их реальными потребностями. Области применения многофункциональных интегрированных измерительных принадлежностей: Широко используется в таких областях, как материаловедение, физика, химия, биология и геология; Оценка сборных металлических конструкций, таких как прокатные листы; Оценка ориентации керамики; Оценка приоритетной ориентации кристаллов в тонкопленочных образцах; Испытания на остаточные напряжения различных металлических и керамических материалов (оценка износостойкости, стойкости к резанию и т.д.); Испытание на остаточное напряжение многослойных пленок (оценка отслаивания пленки и т.п.); Анализ поверхностного окисления и нитридных пленок на высокотемпературных сверхпроводящих материалах, таких как тонкие пленки и металлические пластины; Стекло Си. Анализ многослойных пленок на металлических подложках (магнитные тонкие пленки, пленки для упрочнения поверхности металлов и т. д.); Анализ гальванических материалов, таких как макромолекулярные материалы, бумага и линзы. Многофункциональные интегрированные измерительные принадлежности в рентгеновском дифрактометре являются ключом к улучшению производительности прибора. Они не только улучшают функциональность прибора, но и повышают точность и эффективность измерений, предоставляя исследователям более комплексные и глубокие методы анализа материалов. С непрерывным развитием технологий эти принадлежности будут продолжать играть важную роль в содействии научным исследованиям в смежных областях для достижения большего количества прорывов.

Высокотемпературная приставка в дифрактометре — это дополнительное устройство, которое может выполнять рентгеновский дифракционный анализ образцов в условиях высоких температур. Понять изменения в кристаллической структуре образцов при высокотемпературном нагреве и изменения во взаимном растворении различных веществ при высокотемпературном нагреве. Принцип работы высокотемпературного аксессуара: Используя такие методы, как резистивный нагрев, индукционный нагрев или радиационный нагрев, образец нагревается в заданном диапазоне температур. В то же время он оснащен высокоточными датчиками температуры и системами управления для контроля и регулировки температуры образца в реальном времени, обеспечивая стабильность и точность температуры. Точность контроля температуры может достигать ±0,5℃ или даже выше. Чтобы поддерживать стабильность образца при высоких температурах и не допускать его реакции с кислородом в воздухе, высокотемпературные принадлежности обычно требуют системы защиты атмосферы. Обычные атмосферы включают инертные газы, такие как аргон, азот и т. д. Система контроля атмосферы может точно контролировать скорость потока и давление атмосферы, обеспечивая стабильную экспериментальную среду для образца. Основными функциями высокотемпературного аксессуара являются: Мониторинг в реальном времени фазового перехода образца, химических реакций, изменений кристаллической структуры и других процессов может осуществляться в высокотемпературных средах для получения информации о структуре и свойствах веществ при различных температурах. Анализируя положение, интенсивность и форму дифракционных пиков, можно получить параметры кристаллической ячейки, кристаллическую структуру, фазовый состав и другую информацию об образце, а также точно измерить содержание каждого компонента. Изучить скорость, механизм и диффузионное поведение химических реакций. Например, наблюдение за структурными изменениями катализаторов во время высокотемпературных реакций, понимание образования и исчезновения их активных центров и оптимизация производительности катализаторов. Область применения высокотемпературной принадлежности: Используется для изучения фазового перехода, эволюции кристаллической структуры и изменений характеристик высокотемпературных сверхпроводящих материалов, металлических сплавов, керамических материалов и т. д. при различных температурах, обеспечивая основу для проектирования и подготовки материалов. Мониторинг изменений в веществах во время химических реакций, таких как изучение структурных изменений катализаторов и эволюции активных центров в высокотемпературных каталитических реакциях, может помочь в разработке эффективных катализаторов. Изучение физических свойств веществ при высоких температурах, таких как магнетизм, электронная структура и их связь с температурой, а также исследование новых физических явлений и законов. Технические параметры высокотемпературного аксессуара: Температурная установка: Среда инертного газа от комнатной температуры до 1200 ℃ Вакуумная среда: высокая температура 1600 ℃ Точность контроля температуры: ± 0,5 ℃ Материал окна: Полиэстеровая пленка Метод охлаждения: циркуляционное охлаждение деионизированной водой Подводя итог, можно сказать, что высокотемпературная приставка в дифрактометре является важным испытательным инструментом, который позволяет проводить рентгеновский дифракционный анализ образцов в условиях высоких температур, обеспечивая надежную поддержку исследований в таких областях, как материаловедение, химическая инженерия и физика.