фон

Hовости

Р

Недавно Министерство науки и технологий объявило список второй партии ключевых проектов в рамках Национального плана ключевых исследований и разработок на 2023 год «Условия фундаментальных научных исследований и исследования и разработки основных научных приборов и оборудования».

2024/05/27
Читать Далее
О тонкой структуре поглощения рентгеновских лучей

XAFS, как передовой метод определения характеристик для анализа локальной структуры материалов, может предоставить более точную информацию о координации атомной структуры в ближнем структурном диапазоне, чем рентгеновская дифракция кристаллов.

2024/04/10
Читать Далее
Тонкая структура рентгеновского поглощения

Тонкая структура рентгеновского поглощения (XAFS) — мощный инструмент для изучения локальной атомной или электронной структуры материалов на основе источника света синхротронного излучения.

2024/03/18
Читать Далее
Даньдун Тонгда желает всем богиням счастливого праздника!

С Женским днём! В этот счастливый праздник у вас может быть счастливый и приятный праздник! Наслаждайтесь, отдыхайте и отдыхайте! Надеюсь, вы будете счастливы каждый день, всегда иметь хорошее настроение!

2024/03/08
Читать Далее
Новогодний ужин в Даньдуне Тонгда 2024

Чтобы продемонстрировать хороший стиль энергичного развития компании Даньдун Тонгда, укрепить дружбу и повысить сплоченность, компания организовала групповое мероприятие с 30 по 31 января 2024 года.

2024/02/02
Читать Далее
Прибор для анализа кристаллической структуры - спектр рентгеновской дифракции

Рентгеновская дифракционная спектроскопия в основном анализирует кристаллическое состояние и микроструктуру материалов, и для анализа кристаллов существует два метода рентгеновской дифракции.

2024/01/24
Читать Далее
Применение рентгеновского ориентационного прибора для обработки и обнаружения кристаллов

Автоматический рентгеновский ориентационный прибор является незаменимым инструментом для точной обработки и изготовления кристаллических устройств. Он широко используется при исследовании, обработке и производстве кристаллических материалов.

2024/01/23
Читать Далее
О дифракционной картине

Состав дифракционной картины в основном определяется положением и интенсивностью дифракционного пика, а наш анализ рентгенограммы основан на изменениях интенсивности и положения для объяснения изменений микро- и макроструктуры материала.

2024/01/17
Читать Далее
Об упаковке рентгеновского дифрактометра

Рентгеновский дифрактометр — прецизионный прибор, используемый для изучения кристаллической структуры, морфологии и свойств вещества. В процессе упаковки и транспортировки необходимо принять определенные меры, чтобы гарантировать, что безопасность и производительность прибора не пострадают.

2024/01/09
Читать Далее
Введение в приложения рентгеноструктурный анализ — качество данных

Являясь одним из важных средств определения структуры материалов, РФА широко используется в материаловедении, физике, химии, медицине и других областях.

2024/01/08
Читать Далее
Получить последнюю цену? Мы ответим как можно скорее (в течение 12 часов)
This field is required
This field is required
Required and valid email address
This field is required
This field is required