news

Скользящее падение означает, что рентгеновские лучи падают на пленку под очень малым углом падения (< 5°), which greatly reduces the penetration depth in the film.At the same time, the low incidence Angle increases the irradiation area of the X-ray on the sample

Рентгеноструктурный анализ рентгеновских оптических кристаллов с параллельным лучом успешно применяется для анализа тонких пленок, оценки текстуры образцов, мониторинга кристаллической фазы и структуры и т. д.

Технология микро-КТ имеет значительные преимущества при характеристике керамики, позволяя без повреждений выявить композитную структуру внутри материала и восстановить ключевую технологию производства керамики.

Рентгеновский дифрактометр — прецизионный прибор, используемый для изучения кристаллической структуры, морфологии и свойств вещества. В процессе упаковки и транспортировки необходимо принять определенные меры, чтобы гарантировать, что безопасность и производительность прибора не пострадают.

Рентгеновский дифрактометр в основном используется для определения фазовых характеристик, количественного анализа, анализа кристаллической структуры, анализа структуры материала, анализа ориентации кристаллов порошковых, блочных или тонких пленочных образцов и т. д.

Из-за разных условий кристаллизации частицы порошковых образцов лекарственного средства будут иметь разную морфологию.

Исследователи из установки синхротронного излучения Весна-8 в Научно-исследовательском институте РИКЕН в Японии и их коллеги разработали более быстрый и простой способ выполнения анализа сегментации, важного процесса в материаловедении.

Исследователи разработали метод рентгеновской визуализации, который позволяет получать детальные изображения организмов при гораздо меньших дозах рентгеновского излучения, чем это было возможно ранее.

Поликристаллический рентгеновский дифрактометр, также известный как порошковый дифрактометр, обычно используется для измерения порошковых, поликристаллических металлических или полимерных сыпучих материалов.

Полное название рентгеноструктурный анализ — дифракция рентгеновских лучей, которая использует явление дифракции рентгеновских лучей в кристалле для получения характеристик рентгеновского сигнала после дифракции и получения дифракционной картины после обработки.