



Электронная почта
firefly@tongdatek.comТелефон
+86-415-6123805Праздник середины осени, фестивальный праздник! Даньдун Тонгда Технологии Ко., ООО. для всех сотрудников, чтобы выдать льготы Фестиваля середины осени!
Электронная почтаБолее
рентгеноструктурный анализ может измерять сыпучие и порошкообразные образцы и предъявляет разные требования к образцам разных размеров и свойств.
Электронная почтаБолее
В августе 2023 года под руководством компании большая семья Даньдун Тонгда Технологии Ко., ООО. в провинции Ляонин провела ужин на свежем воздухе накануне конца месяца.
Электронная почтаБолее
Глобальный рентгеновский дифрактометр (рентгеноструктурный анализ) стабильно развивался в последние годы, и Китай является рынком с большими перспективами развития.
Электронная почтаБолее
На примере масштабирования осаждения в этой статье рассказывается, как использовать рентгеновский дифрактометр для качественного фазового и количественного анализа.
Электронная почтаБолее
Предыдущее подробное и полное представление о предпродажном, продажном и послепродажном обслуживании компании, представленное сегодня, представляет собой контент, связанный с обучением по продуктам нашей компании.
Электронная почтаБолее
В последние годы растет интерес к измерению биологических образцов под высоким давлением. Это находит свое отражение в разработке новых методов измерения давления, отличных от тех, что реализованы в ЦАП. Один из них – техника замораживания кристаллов под давлением.
Электронная почтаБолее
Рентгеновский дифрактометр (рентгеноструктурный анализ) можно разделить на рентгеновский порошковый дифрактометр и рентгеновский монокристаллический дифрактометр, основной физический принцип обоих одинаков.
Электронная почтаБолее
Рентгеновские лучи — это тип коротковолнового электромагнитного излучения, промежуточный между ультрафиолетовыми и гамма-лучами, который был разработан немецким физиком В. К. Он был открыт Рентгеном в 1895 году, поэтому его также называют рентгеновскими лучами.
Электронная почтаБолее
Рентгеновский дифрактометр в основном используется для фазовой характеристики, количественного анализа, анализа кристаллической структуры, анализа структуры материала, анализа ориентации кристаллов порошковых, блочных или тонкопленочных образцов.
Электронная почтаБолее