Рентгенография высокого разрешения (HR-рентгеноструктурный анализ) — это распространенный метод измерения состава и толщины сложных полупроводников, таких как СиГе, AlGaAs, InGaAs и т. д.

Рентгеновский дифрактометр (рентгеноструктурный анализ) можно разделить на рентгеновский порошковый дифрактометр и рентгеновский монокристаллический дифрактометр, основной физический принцип обоих одинаков.

Рентгеновская флуоресценция полного отражения (TXRF) — это метод анализа поверхностных элементов, обычно используемый для анализа частиц, остатков и примесей на гладких поверхностях.

рентгеноструктурный анализ — это средство исследования, которое представляет собой дифракцию рентгеновских лучей материала для анализа его дифракционной картины и получения такой информации, как состав материала, структура или форма атомов или молекул внутри материала.

Дифракция рентгеновских лучей скользящего падения (GI-рентгеноструктурный анализ) представляет собой разновидность метода дифракции рентгеновских лучей, который отличается от традиционного эксперимента по рентгеновской дифракции главным образом изменением угла падения рентгеновских лучей и ориентации образца.

В последние годы широкое внимание уделяется методу рентгеновского малоуглового рассеяния биологических макромолекул. В этой статье в основном будет представлен соответствующий прогресс в сочетании биологического малого угла и других методов за последние годы.

Необходимо снизить вредное остаточное напряжение и спрогнозировать тенденцию распределения и величину остаточного напряжения. В этой статье представлен метод неразрушающего контроля остаточного напряжения.

Неразрушающий контроль основан на развитии современной науки и техники. С развитием современной промышленности применение неразрушающего контроля становится все более популярным.

Рентгеновская дифракция (рентгеноструктурный анализ) в настоящее время является мощным методом изучения кристаллической структуры (например, типа и распределения атомов или ионов и их групп, формы и размера ячеек и т. д.).

Рентгеновская кристаллография — это метод, используемый для определения атомной и молекулярной структуры кристалла, при котором кристаллическая структура заставляет падающий рентгеновский луч дифрагировать во многих определенных направлениях.