Качественное обнаружение рентгеноструктурный анализ удобно, быстро и с меньшими помехами. Благодаря постоянному совершенствованию технических средств технология рентгеновской дифракции имеет более широкую перспективу применения в области анализа материалов.

В рентгеноструктурный анализ в качестве источника дифракции используются монохроматические рентгеновские лучи, которые обычно могут проникать в твердое тело и проверять его внутреннюю структуру. Рентгенографический анализ дает информацию об объемной фазовой структуре материала.

С 1990-х годов в исследовании материалов широко используется технология рентгеновской томографии с синхротронным излучением.

Рентгеновская абсорбционная спектроскопия — это спектральный метод анализа элементного состава и электронного состояния материалов с использованием изменений сигнала до и после воздействия рентгеновских лучей синхротронного излучения.

Синхротронное излучение — это электромагнитное излучение, возникающее в касательном направлении орбиты, когда электрон движется по высокоскоростной кривой, и которое можно использовать для проведения многих передовых научных и технологических исследований.

В настоящее время XAFS применяется во многих областях, особенно в области исследования катализа и аккумуляторных материалов, и стал важным точным методом определения характеристик.

При использовании графитовых материалов в качестве материалов отрицательных электродов литиевых аккумуляторов одним из необходимых условий является степень графитизации.

В 1912 году Лауэ и др. предсказанное теорией и подтвержденное экспериментом, что дифракция может произойти, когда рентгеновские лучи встречаются с кристаллом, доказав, что рентгеновские лучи обладают свойством электромагнитной волны, что стало первой вехой в дифракции рентгеновских лучей.

XAFS, как передовой метод определения характеристик для анализа локальной структуры материалов, может предоставить более точную информацию о координации атомной структуры в ближнем структурном диапазоне, чем рентгеновская дифракция кристаллов.

Рентгеновская дифракция — широко используемый неразрушающий аналитический метод, с помощью которого можно выявить кристаллическую структуру, химический состав и физические свойства веществ.