Рентгеновский дифрактометр ТД-3700 является новым членом серии ТД, оснащенным различными высокопроизводительными детекторами, такими как высокоскоростные одномерные матричные детекторы, двумерные детекторы, СДД-детекторы и т. д. Он объединяет быстрый анализ, удобное управление и безопасность пользователя. Модульная аппаратная архитектура и настраиваемая программная система достигают идеального сочетания, делая его частоту отказов чрезвычайно низкой, антиинтерференционные характеристики хорошими и гарантируя долгосрочную стабильную работу высоковольтного источника питания. Рентгеновский порошковый дифрактометр ТД-3700 поддерживает как традиционные методы сканирования дифракционных данных, так и методы сканирования данных пропускания. Рентгеновский порошковый дифрактометр ТД-3700, обладая всеми преимуществами рентгеновского дифрактометра ТД-3500, оснащен высокопроизводительными детекторами. По сравнению со сцинтилляционными детекторами или пропорциональными детекторами интенсивность расчета дифракции может быть увеличена в несколько десятков раз, а полные высокочувствительные, высокоразрешающие дифракционные картины и более высокая интенсивность счета могут быть получены за более короткий период выборки.

Спектр тонкой структуры поглощения рентгеновских лучей (XAFS) — это аналитический инструмент, используемый для изучения структуры и свойств веществ. XAFS получает информацию об атомах и молекулах в образце путем измерения поглощения рентгеновских лучей образцом в определенном диапазоне энергий. XAFS — это мощный инструмент для изучения локальной атомной или электронной структуры материалов. Технология XAFS широко используется в материаловедении, химии, биологии и других областях, особенно в таких областях исследований, как катализ, батареи, датчики и т. д. XAFS имеет важное прикладное значение. Благодаря технологии XAFS исследователи могут получить более глубокое понимание микроструктуры и свойств образцов, что обеспечивает мощную поддержку для проектирования и оптимизации новых материалов.

Рентгеновский монокристаллический дифрактометр в основном используется для определения трехмерной пространственной структуры и плотности электронного облака кристаллических веществ, таких как неорганические, органические и металлические комплексы, а также для анализа структуры специальных материалов, таких как двойникование, несоразмерные кристаллы, квазикристаллы и т. д. Определите точное трехмерное пространство (включая длину связи, угол связи, конфигурацию, конформацию и даже плотность электронов связи) новых молекул соединений (кристаллических) и фактическое расположение молекул в решетке; монокристаллический рентгеновский дифрактометр может предоставить информацию о параметрах кристаллической ячейки, пространственной группе, молекулярной структуре, межмолекулярных водородных связях и слабых взаимодействиях, а также структурную информацию, такую ​​как молекулярная конфигурация и конформация. Монокристаллическая рентгеновская дифрактометрия широко используется в аналитических исследованиях в химической кристаллографии, молекулярной биологии, фармакологии, минералогии и материаловедении. Монокристаллическая рентгеновская дифракция имеет высокую точность: Точность повторяемости угла 2θ: 0,0001°; Минимальный угол шага: 0,0001°; Диапазон регулирования температуры: 100К-300К Точность управления: ±0,3К Монокристаллический угловой измерительный прибор выбирает четыре концентрических сканирующих круга. Монокристаллическая рентгеновская дифракция имеет низкотемпературную конфигурацию. Технический персонал компании завершил установку и отладку зарубежного монокристаллического рентгеновского дифрактометра, и результаты испытаний в значительной степени удовлетворили иностранных пользователей. В то же время функциональность, стабильность и послепродажное обслуживание прибора получили единодушную похвалу от иностранных пользователей. В целом, рентгеновский монокристаллический дифрактометр играет незаменимую роль как важный научный инструмент в исследованиях и применении во многих дисциплинах. С постоянным развитием и инновациями технологий мы считаем, что в будущем монокристаллический Рентгенодифракционный анализ продемонстрирует свою уникальную ценность и потенциал в большем количестве областей.

Переносная рентгеновская испытательная машина для сварки неразрушающий контроль — это тип оборудования для радиографического контроля, которое может генерировать рентгеновские лучи и имеет множество применений. Переносная рентгеновская машина для контроля сварных швов может использоваться в промышленных и медицинских областях. В промышленности она используется для обнаружения дефектов при производстве автомобильных деталей, обнаружения ступиц колес, обнаружения подрамников, контроля качества шарниров и т. д., чтобы гарантировать, что тестируемые промышленные изделия имеют высокую прочность. Кроме того, она относится к оборудованию для рентгеновского контроля сварных швов и обычно используется для обнаружения сварных швов, обнаружения сварных швов котлов, обнаружения сварных швов аэрокосмических компонентов и т. д.

Рентгеновский кристалл-анализатор серии ТДФ — это крупномасштабный рентгеновский прибор, используемый для изучения внутренней микроструктуры веществ. Он использует принцип взаимодействия рентгеновских лучей с кристаллом для определения атомного расположения внутри кристалла путем анализа дифракционной картины рентгеновских лучей. В основном используется для ориентации монокристаллов, дефектоскопии, определения параметров решетки, определения остаточных напряжений, изучения структуры пластин и стержней, исследования структуры неизвестных веществ и дислокаций монокристаллов. Рентгеновский кристаллический анализатор, как рентгеновский прибор, предоставляет ценную информацию для исследований в области материаловедения и других смежных областях. С непрерывным развитием технологий и расширением сфер применения рентгеновский кристаллический анализатор будет продолжать играть важную роль в научных исследованиях и промышленном производстве.

Автоматический рентгеновский ориентатор — это устройство, которое использует принцип дифракции рентгеновских лучей для определения структуры кристалла, ориентации и параметров решетки. Он имеет широкий спектр применения в материаловедении, геологии, физике и химии, особенно при изучении микроструктуры и свойств монокристаллов, поликристаллических материалов и тонкопленочных материалов. Ниже будет дано подробное введение в принцип работы, применение и меры предосторожности при эксплуатации рентгеновского ориентатора кристаллов. С развитием технологий автоматические приборы для ориентации рентгеновских лучей продолжают совершенствоваться, обеспечивая более высокое разрешение и более простую эксплуатацию. В то же время, сочетание с другими аналитическими методами, такими как электронная микроскопия и спектроскопический анализ, делает анализ структуры кристаллов более всеобъемлющим и глубоким. Кроме того, постепенно развивались портативные и онлайн-мониторинговые приборы для анализа ориентации рентгеновских лучей, предоставляя возможности для анализа на месте и мониторинга в реальном времени. Подводя итог, можно сказать, что анализатор ориентации рентгеновских лучей является мощным аналитическим инструментом, который имеет решающее значение для понимания и контроля микроструктуры материалов. С непрерывным развитием технологий его применение в различных областях станет более обширным и глубоким.

Монохроматор с изогнутым кристаллом графита является важным инструментом для рентгеновского дифракционного анализа, в основном используемым для монохроматизации рентгеновских лучей, проходящих через приемную щель, тем самым повышая точность и отношение сигнал/шум анализа. Этот монохроматор использует специфическую структуру кристаллов графита для селективного отражения падающих рентгеновских лучей, позволяя проходить только рентгеновским лучам определенных длин волн (обычно характеристическим рентгеновским лучам Kα), отфильтровывая другие нежелательные рентгеновские компоненты, такие как непрерывные рентгеновские лучи, характеристические рентгеновские лучи Kβ и флуоресцентные рентгеновские лучи. Это селективное отражение основано на законе Брэгга, который гласит, что когда угол между падающим светом и плоскостью кристалла удовлетворяет определенным условиям, происходит когерентное рассеяние, образуя дифракционные пики. При использовании этого монохроматора следует уделять внимание подготовке и размещению образца, чтобы обеспечить точность и симметрию дифракционных пиков. Графитовый изогнутый кристалл-монохроматор широко используется в таких областях исследования материалов, как химия, химическая инженерия, машиностроение, геология, минералы, металлургия, строительные материалы, керамика, нефтехимия и фармацевтика. В этих областях он используется для рентгеновского дифракционного анализа для изучения физических свойств материалов, таких как кристаллическая структура, фазовый переход, напряженное состояние и т. д. Принадлежности для рентгеновского дифрактометра значительно повышают точность и надежность анализа за счет увеличения отношения пика к фону и снижения фонового шума.

Многофункциональный держатель образцов — это устройство, используемое для обеспечения гибкости и высокой эффективности в различных научных исследованиях и промышленных приложениях. Он обычно используется в рентгеновском дифракционном анализе (Рентгенодифракционный анализ) и электронной микроскопии и является принадлежностью рентгеновских дифрактометров (принадлежность Рентгенодифракционный анализ). Как принадлежность рентгеновских дифрактометров (принадлежность Рентгенодифракционный анализ) обычно оснащается регулируемыми столешницами для размещения образцов разных размеров и форм. Многофункциональный держатель образцов является одним из незаменимых инструментов в современных лабораториях и научно-исследовательских институтах. Он в значительной степени способствует развитию научных исследований и промышленных приложений, предоставляя гибкую, эффективную и точную платформу для обработки и анализа образцов. Будь то в области материаловедения, биомедицины или электронной промышленности, многофункциональный держатель образцов играет важную роль, помогая исследователям и инженерам лучше понимать и совершенствовать свои предметы исследований.

Приводимый в действие импортным шаговым двигателем и управляемый импортным программируемым логическим контроллером (ПЛК) Сименс, нет необходимости в ручной замене образцов. Система автоматически непрерывно измеряет образцы и автоматически сохраняет данные. Шесть образцов могут быть загружены одновременно для непрерывного измерения. В целом, как эффективное вспомогательное экспериментальное оборудование, автоматический сменщик образцов играет важную роль во многих областях. С непрерывным развитием технологий и растущим спросом на приложения производительность и функциональность автоматического сменщика образцов также будут и дальше улучшаться и совершенствоваться.

Многофункциональные интегрированные измерительные принадлежности используются для анализа пленок на платах, блоках и подложках и могут выполнять такие испытания, как определение кристаллической фазы, ориентации, текстуры, напряжения и плоскостной структуры тонких пленок. Многофункциональные интегрированные измерительные принадлежности обычно предназначены для повышения функциональности рентгеновского дифрактометра, позволяя им адаптироваться к более разнообразным потребностям тестирования. Существует тесная связь между многофункциональными интегрированными измерительными принадлежностями и рентгеновским дифрактометром. Эти принадлежности не только повышают функциональность и производительность рентгеновского дифрактометра, но и повышают его простоту эксплуатации и безопасность. В практических приложениях пользователи могут выбирать подходящие принадлежности в соответствии со своими конкретными потребностями, чтобы расширить сценарии применения рентгеновского дифрактометра и повысить эффективность измерений.

Приспособление для исследования образцов при средних и низких температурах в-место предназначено для изучения изменений в кристаллической структуре в процессе низкотемпературного охлаждения; для обеспечения среды для образцов при средних и низких температурах (обычно ниже комнатной, но не экстремально низких, например, в диапазоне от -100 ℃ до комнатной температуры) для микроскопов и других приборов. Вакуумная среда: -196~500℃ Точность контроля температуры: ±0,5℃ Метод охлаждения: жидкий азот (расход менее 4 л/ч) Материал окна: Полиэстеровая пленка Метод охлаждения: циркуляционное охлаждение деионизированной водой

Высокотемпературная приставка предназначена для изучения изменений кристаллической структуры образцов при высокотемпературном нагреве, а также изменений во взаимном растворении различных веществ при высокотемпературном нагреве.  Высокотемпературные принадлежности играют решающую роль в качестве важного экспериментального и промышленного оборудования во многих областях. Широкий спектр областей применения, точные технические параметры и разнообразные типы продукции делают высокотемпературные принадлежности незаменимой частью научных исследований и промышленного производства. технические параметры Температурная установка: Среда инертного газа от комнатной температуры до 1200 ℃ Вакуумная среда с высокой температурой 1600 ℃ Точность контроля температуры: ± 0,5 ℃ Материал окна: Полиэстеровая пленка