фон

Hовости

Рентгеноструктурное исследование полимеров

Полимеры обычно синтезируются в виде волокон, листов и других твердых форм. На его свойства во многом влияют структурные параметры, такие как кристалличность, кристаллическая структура и ориентация, и их можно изучить с помощью рентгеноструктурный анализ.

2023/12/04
Читать Далее
Методы проецирования в поликристаллических формах и контроль качества

Рентгеновская дифракция делится на два вида: дифракция монокристаллов и дифракция порошков, монокристалл в основном используется для определения молекулярной массы и кристаллической структуры, порошок в основном используется для идентификации и чистоты кристаллических веществ.

2023/12/01
Читать Далее
Мощное программное обеспечение для анализа — XRPD

Даньдун Тонгда Технологии Ко., ООО. является профессиональным производителем рентгеновских дифрактометров, имеет 14-летнюю историю и наладила сотрудничество со многими университетами и предприятиями в стране и за рубежом.

2023/11/30
Читать Далее
Превосходное программное обеспечение для автоматической идентификации минералов рентгеноструктурный анализ

С развитием технологии обнаружения рентгеноструктурный анализ, миниатюризацией инструментов, низким энергопотреблением, простотой использования, интеллектуальное обнаружение становится все более популярным и становится тенденцией в области инструментов.

2023/11/29
Читать Далее
Новый детектор рентгеновского излучения – невидимый взгляд на Вселенную

Новый рентгеновский спектрометр большой площади с высоким угловым разрешением раскроет фундаментальные движущие силы галактической эволюции, которые оставляют свой след в теплой плазме, которая, по мнению космологов, существует в межгалактическом пространстве.

2023/11/28
Читать Далее
Метод испытания на остаточную нагрузку

Рентгеновский дифрактометр — это прибор, используемый для измерения остаточного напряжения внутри материала. Путем анализа рентгенограммы материала рассчитывается распределение остаточных напряжений внутри материала.

2023/11/27
Читать Далее
Методика характеризации ГИВАКСЫ

ГИВАКСЫ — это метод определения внутренней микроструктуры образцов тонких пленок. Соответствующий размер структуры составляет от 10 нм до 1 мкм, поэтому он широко используется для характеристики кристаллизации внутри солнечных тонкопленочных элементов.

2023/11/25
Читать Далее
Рентгенографическое исследование тонких монокристаллических эпитаксиальных пленок с высоким разрешением

HRXRD является мощным методом неразрушающего контроля, и его объектами исследования являются в основном монокристаллические материалы, монокристаллические эпитаксиальные тонкопленочные материалы и различные низкоразмерные полупроводниковые гетероструктуры.

2023/11/24
Читать Далее
Широкое применение и развитие технологий рентгеновской визуализации.

В ходе развития технологии рентгеновской визуализации технология рентгеновской визуализации сформировала относительно полную систему технологий рентгеновского неразрушающего контроля. Для удовлетворения потребностей постоянно внедряются новые технологии обнаружения, а также применяется технология онлайн-обнаружения рентгеновскими лучами.

2023/11/23
Читать Далее
Рентгеновский лазер демонстрирует значительное улучшение точности измерения времени.

В европейском рентгеновском лазере XFEL исследователи использовали скандий для создания более точного генератора импульсов с точностью до одной секунды за 300 миллиардов лет, что примерно в тысячу раз точнее, чем сегодняшние стандартные атомные часы на основе цезия.

2023/11/22
Читать Далее
Получить последнюю цену? Мы ответим как можно скорее (в течение 12 часов)
This field is required
This field is required
Required and valid email address
This field is required
This field is required