Автоматический рентгеновский ориентационный прибор является незаменимым инструментом для точной обработки и изготовления кристаллических устройств. Он широко используется при исследовании, обработке и производстве кристаллических материалов.

За последние 10 лет Институт физики Китайской академии наук использовал метод порошковой дифракции для определения кристаллической структуры многих неорганических и органических соединений.

Детектор рентгеновского излучения — это устройство, используемое для обнаружения рентгеновских лучей, которое имеет широкий спектр применения в медицине, науке и промышленности. Детекторы рентгеновского излучения преобразуют рентгеновские лучи в электрические сигналы для цифровой обработки и визуализации.

Рентгеновские лучи имеют короткую длину волны и высокую энергию и могут проникать в объекты, чтобы напрямую наблюдать внутренние дефекты. Высоко оценен в области неразрушающего контроля. На самом деле, есть еще одна функция, которая также широко используется, а именно обнаружение инородных тел.

Неразрушающий контроль (неразрушающий контроль) — это метод тестирования, широко используемый в различных отраслях промышленности, который широко известен за свою высокую точность, эффект визуализации с высоким разрешением, а также быструю и эффективную скорость обнаружения.

Состав дифракционной картины в основном определяется положением и интенсивностью дифракционного пика, а наш анализ рентгенограммы основан на изменениях интенсивности и положения для объяснения изменений микро- и макроструктуры материала.

СБА-15 представляет собой разновидность мезопористого молекулярного сита, и его синтез является еще одной важной химической технологией, появившейся в последние годы.

В настоящее время технология рентгеновской визуализации сформировала относительно полную систему технологий рентгеновского неразрушающего контроля. Также внедряются новые технологии обнаружения с использованием технологии онлайн-обнаружения Рентгеновский.

Скользящее падение означает, что рентгеновские лучи падают на пленку под очень малым углом падения (< 5°), which greatly reduces the penetration depth in the film.At the same time, the low incidence Angle increases the irradiation area of the X-ray on the sample

Рентгеноструктурный анализ рентгеновских оптических кристаллов с параллельным лучом успешно применяется для анализа тонких пленок, оценки текстуры образцов, мониторинга кристаллической фазы и структуры и т. д.