Вращающийся держатель образца — это экспериментальное устройство, используемое для точного контроля ориентации образца, широко используемое в таких областях, как рентгеновская дифракция (Рентгенодифракционный анализ), спектроскопический анализ и испытание материалов. Вращая образец, можно устранить предпочтительную ориентацию, повысить точность и повторяемость измерений. 1. Основная функция вращающегося держателя образца (1) Устранение предпочтительной ориентации: вращение плоскости образца (ось β) позволяет уменьшить ошибки дифракции, вызванные крупными зернами или текстурой, что обеспечивает воспроизводимость интенсивности дифракции. (2) Многопозиционное измерение: проводите многоугловые измерения на неровных образцах (например, зернах), усредняйте данные в разных положениях и повышайте точность и повторяемость результатов. (3) Автоматизированная работа: некоторые устройства поддерживают автоматическое вращение и смену образцов для повышения эффективности тестирования (например, полностью автоматический вращающийся держатель образцов Рентгенодифракционный анализ). 2. Технические характеристики вращающегося держателя образца (1) Конструктивное проектирование: Режим привода: точное вращение достигается с помощью таких механизмов, как двигатели, валы, шестерни и рейки, а некоторое оборудование оснащено серводвигателями и энкодерами для корректировки скорости. Зажимное устройство: образец фиксируется компрессионным зажимом, прорезью для карты или зажимным блоком, а внутренняя сторона частично зажимается резиновым слоем для адаптации к различным материалам. Параметры вращения: Скорость вращения может достигать 1–60 об/мин с минимальной шириной шага 0,1º и поддерживает непрерывный или пошаговый режимы. (2) Адаптируемость: Может устанавливаться в рентгеновских дифракционных приборах, оптических/электрических испытательных системах и т. д., поддерживая несколько держателей образцов (например, отражающие зонды, принадлежности для батарей в место и т. д.). Некоторые устройства поддерживают вращение на 360° и совместимы с различными требованиями к измерениям, такими как оптика и электроника. 3. Сценарии применения вращающегося держателя образца (1) Рентгеновская дифракция (Рентгенодифракционный анализ): Используется для анализа образцов с текстурой или кристаллографией (например, металлических материалов, тонких пленок) для устранения влияния предпочтительной ориентации на результаты дифракции. Полностью автоматическая модель позволяет повысить эффективность многообразных испытаний, сократить количество открываний и закрываний дверей и продлить срок службы оборудования. (2) Спектральный анализ и испытание материалов: Используется для измерения неравномерных образцов (например, зерен) с помощью отражательных зондов путем вращения и усреднения спектральных данных в разных положениях. Адаптируется к в место высоким и низким температурам и поддерживает сложные экспериментальные условия. (3) Многофункциональный эксперимент: Комбинируя зонды, электрические или оптические держатели образцов, можно добиться комплексного тестирования электрических характеристик, морфологии поверхности и других характеристик. Вращающийся держатель образца решает проблему погрешности измерения, вызванную предпочтительной ориентацией традиционных неподвижных образцовых столиков, путем точного управления ориентацией образца. В то же время его автоматизация и многосценарная адаптивность делают его ключевым инструментом в таких областях, как рентгеновская дифракция и спектральный анализ. Конкретный выбор должен быть согласован с соответствующей моделью на основе экспериментальных требований, таких как точность вращения, тип образца и уровень автоматизации.

Компания Даньдун Тонгда Технология специализируется на разработке малоугловых дифракционных приставок, являющихся специализированными компонентами рентгеновских дифрактометров. Охватывая диапазон углов дифракции от 0° до 5°, эти приставки обеспечивают точное измерение толщины многослойных нанопленок и поддерживают структурный анализ наноматериалов. Разработанные для полной совместимости с дифрактометрами серий ТД-3500, ТД-3700 и другими, они широко используются для характеризации наноматериалов в таких областях, как материаловедение, химическая инженерия, геология и минералогия. Благодаря импортной технологии управления на основе ПЛК и модульной конструкции эти приставки значительно повышают автоматизацию оборудования и стабильность работы. Приборы серии ТД теперь соответствуют международным стандартам и успешно экспортируются в такие страны, как США и Азербайджан, оказывая важнейшую техническую поддержку глобальным исследованиям в области наноматериалов.

Приставка для измерения параллельных оптических пленок компании Даньдун Тонгда — специализированный компонент рентгеновских дифрактометров, значительно повышающий производительность испытаний тонкопленочных образцов. Удлиненная конструкция решетки эффективно подавляет помехи рассеяния, повышая четкость сигнала для сверхтонких и наномногослойных пленок. Приставка поддерживает анализ малоугловой дифракции (0°–5°), обеспечивая точное измерение толщины плёнки и структуры интерфейса. Совместимость с дифрактометрами ТД-3500, ТД-5000, ТД-3700 и ТДМ-20 обеспечивает стабильные результаты на всех платформах. Этот инструмент широко применяется при контроле полупроводников, оценке оптических покрытий и исследовании новых энергетических материалов, решая такие проблемы, как слабые сигналы и фоновый шум. По мере развития наноматериалов и полупроводниковой промышленности этот инструмент будет играть всё более важную роль в передовых исследованиях и контроле качества.

Принадлежности для средних и низких температур в место являются принадлежностями для экспериментального оборудования, используемыми для анализа материалов, в основном для испытаний в место в условиях низких или средне-низких температур. В сочетании с вакуумной средой, контролем температуры и специальным дизайном оконного материала он широко используется в таких областях, как химия, материаловедение и каталитические исследования. 1. Основные функции и технические параметры принадлежностей для средних и низких температур на месте (1) Диапазон температур и точность регулирования Поддерживает диапазон температур от -196 ℃ до 500 ℃ в вакуумной среде (например, охлаждение жидким азотом) с точностью регулирования температуры ± 0,5 ℃. Некоторые модели могут охватывать температуры от -150 ° C до 600 ° C, что подходит для более широкого спектра экспериментальных нужд. (2) Метод охлаждения и система охлаждения Использование охлаждения жидким азотом, с потреблением жидкого азота менее 4 л/ч, и поддержание стабильной температуры с помощью системы охлаждения с циркуляцией деионизированной воды. Дополнительная низкотемпературная система охлаждения жидким азотом (например, серия Криострим). (3) Оконные материалы и структурное проектирование Материалом окон в основном служит полиэфирная пленка (например, серия ТД), а в некоторых инфракрасных конфигурациях используются окна из КБr или SiO2. Конструкция имеет конструкцию, устойчивую к высокому давлению (например, 133 кПа), и оснащена несколькими входами/выходами для газа, подходящими для проведения реакций на месте или контроля атмосферы. 2. Области применения принадлежностей для средних и низких температур на месте (1) Материальное исследование Используется для в место тестирования рентгеновских дифрактометров (таких как ТД-3500) для изучения изменений в кристаллической структуре и процессов фазового перехода при низких температурах. Поддержка исследований гетерогенного катализа, взаимодействия газа и твердого тела, фотохимических реакций и т. д. (2) Электрохимические и аккумуляторные исследования Его можно расширить до принадлежностей для аккумуляторов на месте для испытания композитов в электрохимических системах (таких как углерод, кислород, азот, сера и т. д.) с температурной устойчивостью до 400 ℃. (3) Отраслевые применения Продукция компании Даньдун Тонгда Технологии (серия ТД) применяется в областях химии, химической инженерии, геологии, металлургии и т. д. и экспортируется в такие страны, как США и Азербайджан. 3. Типичные продукты и марки принадлежностей для средних и низких температур на месте эксплуатации Технология Даньдун Тонгда (серия ТД) Аксессуары для рентгеновских дифрактометров, таких как ТД-3500 и ТД-3700, подчеркивают высокоточный контроль температуры (± 0,5 ℃) и эффективное охлаждение жидким азотом. Подходит для измерения спектроскопии диффузного отражения, обеспечивает реакционную камеру из нержавеющей стали, многооконную конфигурацию (совместимую с ИК-Фурье или УФ Вис), поддерживает высокий вакуум до 133 кПа. В целом, в место средне- и низкотемпературные принадлежности стали важным инструментом для анализа материалов в место благодаря точному контролю температуры, вакуумной среде и конструкции окна, адаптированной к различным приборам. Они играют незаменимую роль в изучении низкотемпературных кристаллических структур и исследовании механизмов каталитических реакций.

Понять изменения в кристаллической структуре образцов во время высокотемпературного нагрева и изменения во взаимном растворении различных веществ во время высокотемпературного нагрева. Высокотемпературное присоединение в место представляет собой экспериментальное устройство, используемое для в место характеризации материалов в условиях высокой температуры, в основном используемое для изучения динамических процессов, таких как изменения кристаллической структуры, фазовые переходы и химические реакции материалов во время высокотемпературного нагрева. Ниже приводится подробное введение с точки зрения технических параметров, сценариев применения и мер предосторожности: 一、 Технические параметры высокотемпературных насадок на месте 1. Диапазон температур высокотемпературных насадок на месте Среда инертного газа/вакуума: максимальная температура может достигать 1600 ℃. Стандартная среда: от комнатной температуры до 1200 ℃ (как предусмотрено в дополнительном устройстве ТД-3500 Рентгенодифракционный анализ). 2. Точность контроля температуры высокотемпературных принадлежностей на месте: обычно ± 0,5 ℃ (например, высокотемпературных принадлежностей на месте), а точность некоторого оборудования выше 1000 ℃ составляет ± 0,5 ℃. 3. Материалы окон и методы охлаждения для высокотемпературных навесных установок Материал окна: полиэфирная пленка (устойчива к температуре до 400 ℃) или бериллиевый лист (толщина 0,1 мм), используемый для пропускания рентгеновских лучей. Метод охлаждения: Циркуляционное охлаждение деионизированной водой обеспечивает стабильную работу оборудования в условиях высоких температур. 4. Контроль атмосферы и давления высокотемпературных насадок на месте: Поддерживает инертные газы (например, Ар, N ₂), вакуум или атмосферные среды, а некоторые модели могут выдерживать давление менее 10 бар. Расход газа в атмосфере можно регулировать (0,7–2,5 л/мин), что подходит для агрессивных газовых сред. 二、 Сценарии применения высокотемпературных насадок на месте 1. Материаловедческие исследования высокотемпературных насадок в место Анализировать изменения кристаллической структуры (например, фазовый переход платины) и процессы фазового перехода (например, плавление и сублимация) при высоких температурах. Изучать химические реакции материалов при высоких температурах, такие как растворение и окисление. 2. Адаптируемость оборудования к высокотемпературным насадкам на месте В основном используется в рентгеновских дифрактометрах (Рентгенодифракционный анализ), таких как ТД-3500, ТД-3700 и т. д. Его также можно использовать для испытаний на растяжение в место с использованием сканирующей электронной микроскопии (СЭМ), при этом требуются индивидуальные фланцевые соединения. 三、 Меры предосторожности при использовании высокотемпературных аксессуаров на месте 1. Примеры требований к высокотемпературным навесным устройствам на месте Необходимо заранее проверить химическую стабильность образца в целевом диапазоне температур, чтобы избежать разложения на сильные кислоты/основания или керамические связи. Форма образца должна соответствовать требованиям крепления (например, толщина 0,5-4,5 мм, диаметр 20 мм). 2. Экспериментальные процедуры эксплуатации высокотемпературных насадок на месте Скорость нагрева необходимо контролировать (например, максимум 200 ℃/мин при 100 ℃), чтобы избежать перегрева и повреждения оборудования. После эксперимента образец необходимо охладить до комнатной температуры, чтобы предотвратить структурные повреждения.

Многофункциональный предметный столик представляет собой высокоинтегрированное экспериментальное оборудование, которое в основном используется в областях материаловедения, производства полупроводников, анализа с помощью электронной микроскопии и т. д. Его основными особенностями являются модульная конструкция, многофункциональная интеграция и высокоточное управление. 一、 Основные функции и структурные характеристики многофункционального образца 1. Модульная конструкция многофункционального предметного столика: Множество функций достигается за счет различных комбинаций модулей, таких как модуль самовращающейся муфты (скорость 0–20 оборотов в минуту, с нулевым ограничением), подъемный модуль (стандартный ход 50 мм/100 мм, настраиваемый), модуль нагревателя (максимальная температура до 1100 ℃) и т. д. Поддержка подключения источника питания постоянного тока/радиочастот для удовлетворения потребностей выращивания тонких пленок, очистки образцов или формирования вспомогательных пленок. 2. Высокоточное управление и датчики для многофункционального предметного столика: Оснащен датчиками температуры, давления и другими датчиками, осуществляет мониторинг параметров окружающей среды образца в режиме реального времени, а также регулирует нагрев, охлаждение и другие операции с помощью системы управления. Некоторые модели оснащены пневматическими модулями перегородок для удобства эксплуатации. 3. Совместимость и адаптивность многофункционального предметного столика: Подходит для испытания нестандартных образцов, таких как следы порошков, листовые материалы и образцы большого размера, что позволяет избежать повреждений, вызываемых традиционной резкой или шлифовкой. Поддерживает образцы размером менее 6 дюймов и настраиваемые интерфейсы фланцев. Области применения многофункционального стенда для образцов 1. Тонкопленочная технология для многофункционального столика образца: используется для передовых технологий выращивания тонких пленок, таких как МЛЭ (молекулярно-лучевая эпитаксия), ПЛД (импульсное лазерное осаждение), магнетронное распыление, а также отжиг подложки, высокотемпературная дегазация и другие процессы. 2. Электронно-микроскопический анализ многофункционального предметного столика: Сканирующий электронный микроскоп с холодным полем: закрепите образец длинными винтами и отрегулируйте проводимость с помощью совместимых латунных шайб. Система ТЭМ/ФИБ: объединяет расслоение в место, тестирование с помощью нанозондов и анализ ТЭМ для предотвращения загрязнения или повреждения, вызванного переносом образца. 3. Анализ отказов многофункционального образца: интеграция процессов атомной зачистки, электрических испытаний и анализа в системах ФИБ и ТЭМ для повышения успешности и эффективности. 三、 Технические преимущества многофункционального предметного столика 1. Интеграция и автоматизация многофункционального предметного столика: снижает сложность ручного управления за счет модульной конструкции, поддерживает общее перемещение и точное позиционирование в вакуумной среде. 2. Высокая надежность многофункционального предметного столика: использование стандартных фланцевых интерфейсов (например, CF50/CF40) для обеспечения герметичности и совместимости. 3. Настройка многофункционального стола для образцов: нагревательный материал, длина хода и тип держателя образца (например, 3-кулачковый байонетный тип, тип нижней вилки) могут быть выбраны в соответствии с потребностями. В целом, многофункциональный предметный столик является ключевым оборудованием для исследования материалов и микроанализа, обычно используемым в рентгеновских дифракционных приборах. Его ценность заключается в функциональной интеграции, эксплуатационной гибкости и адаптивности к сложным экспериментальным требованиям. Конкретный выбор должен соответствовать соответствующим модулям и параметрам производительности в соответствии с фактическими сценариями применения (такими как технология тонких пленок, анализ электронной микроскопии или анализ отказов).

一、Основные функции и сценарии применения оригинальных аккумуляторных аксессуаров Функциональное расположение оригинальных аксессуаров аккумулятора: 1. Внедрение тестирования в реальном времени во время процессов зарядки и разрядки аккумулятора (например, рентгеновская дифракция, оптическое наблюдение и т. д.) для предотвращения потери данных или загрязнения образцов, вызванных традиционной разборкой. 2. Имитация рабочей среды реальных батарей, поддержка контроля температуры, добавления электролита и гарантия герметизации. Типичные сценарии применения оригинальных аккумуляторных аксессуаров: 1. Рентгеновское дифракционное тестирование на месте: анализ изменений кристаллической фазы электродных материалов (например, LiFePO4) во время процессов заряда и разряда. 2. Оптическое наблюдение в место: наблюдайте за реакцией поверхности электрода через бериллиевое окно (полиэфирная пленка). 3.Высокопроизводительный скрининг: поддерживает исследование производительности аккумуляторов в различных условиях (температура, давление, электролит). 4.Широко используется в электрохимических системах, содержащих углерод, кислород, азот, серу, комплексы металлов и т. д.    二、Структурный состав и свойства материалов оригинальных аксессуаров для аккумуляторов 1.Основные компоненты оригинальных аккумуляторных аксессуаров: Нижняя изоляционная крышка: в основном изготовлена ​​из алюмооксидной керамики или политетрафторэтилена, включая монтажную камеру и канал потока охлаждающей жидкости, обеспечивающий контроль температуры. Верхняя токопроводящая крышка: имеет сквозные отверстия, крепится болтами к нижней изолирующей крышке для образования пути тока. Нижний электрод: включает верхнюю пластину и опорную стойку, фиксируется сжатием пружины-бабочки, что упрощает процесс сборки. Бериллиевое окно (полиэфирная пленка): диаметр 15 мм (настраивается индивидуально), толщина 0,1 мм (настраивается индивидуально), используется для проникновения рентгеновских лучей или оптического наблюдения. 2.Техническое усовершенствование оригинальных аккумуляторных принадлежностей: Формальная сборка: заменяет традиционные инвертированные методы, упрощает процесс эксплуатации и снижает воздействие сжатия на материалы сепаратора и положительного электрода. Охлаждение и обогрев: нижняя изоляционная крышка оснащена каналом для охлаждающей жидкости или трубопроводом с резистивным проводом, поддерживающим контроль температуры до -400 ℃. Конструкция уплотнения: пружина-бабочка сжимает и фиксирует нижний электрод и взаимодействует с потоком воздуха в седле установки, предотвращая образование инея и льда. 三、Технические преимущества оригинальных аккумуляторных аксессуаров 1. Удобная эксплуатация оригинальных аккумуляторных аксессуаров: Формальная конструкция сокращает время работы внутри перчаточного ящика и снижает сложность сборки. Модульная конструкция компонентов (таких как сменные бериллиевые окна и изоляционные втулки) повышает эффективность обслуживания. 2. Параметры производительности: Диапазон испытаний: диапазон температур 0,5-160 ℃, термостойкость до 400 ℃. Герметизация: обеспечивает долгосрочное стабильное хранение электролита, предотвращая утечку. Совместимость: Подходит для рентгеновских дифрактометров и другого оборудования.

Аксессуары для волокон Рентгеновская дифракция и ИК-Фурье предоставляют комплексные решения для характеризации материалов. Установки Рентгеновская дифракция анализируют структуру и ориентацию кристаллов, а системы ИК-Фурье определяют состав с помощью микровизуализации и технологии НПВО. Аксессуары включают в себя малоугловую дифракцию, параллельный пучок тонких пленок и температурные столики в место для анализа в наномасштабе. Автоматизированная обработка образцов повышает эффективность. Области применения охватывают материаловедение, промышленный контроль качества и научные исследования полимерного дихроизма. Эти инструменты продолжают развиваться, стимулируя инновации в области науки о волокнах и их промышленного применения.

Многофункциональная интегрированная измерительная приставка обеспечивает точный анализ текстуры, напряжений и состояния тонких плёнок. Поддерживает картирование полюсных фигур, измерение двухосных напряжений и вращение в плоскости. Идеально подходит для металлов, керамики, покрытий и полимеров. Имеет точность измерения 0,001° и диапазон измерения образцов Φ100 мм.

Рентгеновский абсорбционный спектрометр тонкой структуры (XAFS) — мощный инструмент для изучения локальной атомной или электронной структуры материалов, широко используемый в таких популярных областях, как катализ, энергетика и нанотехнологии. Основной принцип работы спектрометра тонкой структуры поглощения рентгеновских лучей (XAFS) заключается в том, что когда энергия рентгеновских лучей резонирует с энергией внутренней электронной оболочки элемента в образце, резкое увеличение электронов возбуждается, образуя непрерывный спектр, который называется краем поглощения. Вблизи края поглощения, по мере увеличения энергии рентгеновских лучей, скорость поглощения монотонно уменьшается с увеличением глубины проникновения рентгеновских лучей. Когда спектр выходит за пределы определенного края, можно наблюдать тонкие структуры, где области поглощения рентгеновских лучей вблизи краевых структур (XANES) появляются, как только пики и плечи шириной, превышающей 20-30 электрон-вольт, проходят через начальную точку края. Тонкая структура, расположенная на высокоэнергетической стороне края, где энергия затухает до нескольких сотен электрон-вольт, называется тонкой структурой поглощения рентгеновских лучей (XAFS). Основными характеристиками рентгеновского абсорбционного тонкоструктурного спектрометра (XAFS) являются: Чувствительность к ближнему порядку: зависит от ближнего порядка и не зависит от дальнего порядка, что позволяет измерять широкий спектр образцов. Может использоваться для аморфных, жидких, расплавленных, активных центров катализаторов, металлических белков и т. д., а также для структурных исследований примесных атомов в кристаллах. Сильные элементные характеристики: Край поглощения рентгеновских лучей имеет элементные характеристики, и для атомов различных элементов в образце можно изучать структуру атомных соседей различных элементов в одном и том же соединении, регулируя энергию падающего рентгеновского излучения. Высокая чувствительность: метод флуоресценции можно использовать для измерения образцов элементов с концентрацией до одной миллионной. Комплексное получение структурной информации: возможность предоставления параметров, определяющих локальную структуру, таких как расстояние между поглощающими атомами и соседними атомами, количество и тип этих атомов, а также степень окисления поглощающих элементов. Подготовка образца проста: не требуется монокристалл, а в условиях эксперимента время сбора данных относительно короткое. При использовании синхротронного источника рентгеновского излучения для измерения спектральной линии обычно требуется всего несколько минут. Основными преимуществами рентгеновского абсорбционного тонкоструктурного спектрометра (XAFS) являются: Основное преимущество: продукт с самым высоким световым потоком Поток фотонов, превышающий 1000000 фотонов/сек/эВ, со спектральной эффективностью, в несколько раз превышающей другие продукты; Получение качества данных, эквивалентного синхротронному излучению Превосходная стабильность: Стабильность интенсивности монохроматического света источника света лучше 0,1%, а дрейф энергии при повторном сборе составляет менее 50 мэВ. Предел обнаружения 1%: Высокий световой поток, превосходная оптимизация оптического пути и превосходная стабильность источника света гарантируют возможность получения высококачественных данных EXAFS, даже если содержание измеряемого элемента составляет >1%. 4. Области применения рентгеновского абсорбционного тонкоструктурного спектрометра (XAFS): Область энергетики: например, исследования литиевых батарей и других материалов для вторичных батарей, исследования топливных элементов, исследования материалов для хранения водорода и т. д. XAFS можно использовать для определения концентрации, валентного состояния, координационной среды и динамических изменений атомов ядра во время циклов заряда-разряда и электрохимических реакций. Область катализа: используется для исследований катализа наночастиц, катализа отдельных атомов и т. д. Получите морфологию катализатора на носителе, форму взаимодействия с носителем и ее изменения в ходе каталитического процесса с помощью XAFS, а также соседние структуры ионов металлов с чрезвычайно низким содержанием. В области материаловедения рентгеновский абсорбционный спектрометр тонкой структуры (XAFS) используется для характеристики различных материалов, изучения сложных систем и неупорядоченных структурных материалов, исследования радиоактивных изотопов, изучения связанных свойств поверхностных и интерфейсных материалов, а также изучения динамических изменений в материалах. В области геологии рентгеновский абсорбционный спектрометр тонкой структуры (XAFS) может использоваться для анализа валентного состояния элементов рудных материалов при геологических исследованиях. Область экологии: КС может использоваться для анализа валентного состояния элементов Кр/Как и т. д. В области радиохимии рентгеновский абсорбционный спектрометр тонкой структуры (XAFS) может использоваться для анализа валентного состояния элементов Се, U и т. д. Спектрометр тонкой структуры рентгеновского поглощения (XAFS) играет важную роль в современных научных исследованиях благодаря своему уникальному принципу работы, значительным характеристикам и широким областям применения. Он предоставляет людям мощные средства для более глубокого понимания микроструктуры и химического состояния вещества, способствуя развитию и прогрессу множества дисциплинарных областей.