Скользящее падение означает, что рентгеновские лучи падают на пленку под очень малым углом падения (< 5°), which greatly reduces the penetration depth in the film.At the same time, the low incidence Angle increases the irradiation area of the X-ray on the sample

Рентгеноструктурный анализ рентгеновских оптических кристаллов с параллельным лучом успешно применяется для анализа тонких пленок, оценки текстуры образцов, мониторинга кристаллической фазы и структуры и т. д.

Неразрушающий контроль промышленного КТ — это оценка внутренних дефектов, структурных дефектов, физики и состава продукта в соответствии с исходным состоянием и характеристиками заготовки без разрушения или изменения сырья.

Технология микро-КТ имеет значительные преимущества при характеристике керамики, позволяя без повреждений выявить композитную структуру внутри материала и восстановить ключевую технологию производства керамики.

Рентгеновский дифрактометр — прецизионный прибор, используемый для изучения кристаллической структуры, морфологии и свойств вещества. В процессе упаковки и транспортировки необходимо принять определенные меры, чтобы гарантировать, что безопасность и производительность прибора не пострадают.

Являясь одним из важных средств определения структуры материалов, РФА широко используется в материаловедении, физике, химии, медицине и других областях.

Рентгеновский дифрактометр в основном используется для определения фазовых характеристик, количественного анализа, анализа кристаллической структуры, анализа структуры материала, анализа ориентации кристаллов порошковых, блочных или тонких пленочных образцов и т. д.

Из-за разных условий кристаллизации частицы порошковых образцов лекарственного средства будут иметь разную морфологию.

Исследователи из установки синхротронного излучения Весна-8 в Научно-исследовательском институте РИКЕН в Японии и их коллеги разработали более быстрый и простой способ выполнения анализа сегментации, важного процесса в материаловедении.

В рентгеновском анализе - прибор, используемый для измерения угла между падающим рентгеновским лучом и дифрагированным рентгеновским лучом. Дифрактометр автоматически отображает изменение интенсивности дифракции в зависимости от угла 2θ.