
Hовости
Рентгеновский облучатель может генерировать высокоэнергетические рентгеновские лучи для облучения клеток или мелких животных. Используется для различных фундаментальных и прикладных исследований. На протяжении всей истории использовались радиоактивные изотопные облучатели, которые требовали транспортировки образцов в основную установку облучения. Сегодня в лабораториях можно установить более компактное, безопасное, простое и недорогое рентгеновское облучательное оборудование для удобного и быстрого облучения клеток.
Высокотемпературные принадлежности предназначены для изучения изменений кристаллической структуры образцов при высокотемпературном нагреве, а также изменений во взаимном растворении различных веществ при высокотемпературном нагреве.
Рентгеновский абсорбционный спектрометр тонкой структуры (XAFS) — мощный инструмент для изучения локальной атомной или электронной структуры материалов, широко используемый в таких популярных областях, как катализ, энергетика и нанотехнологии.
В качестве основной системы управления автоматического сменщика образцов используется импортный шаговый двигатель и программируемый логический контроллер (ПЛК). Выбор этих двух ключевых компонентов обеспечивает точность, стабильность и долгосрочную надежность работы оборудования. Рабочий процесс автоматического устройства смены образцов прост и эффективен: Оператор предварительно загружает до шести образцов последовательно в указанные позиции устройства для смены образцов. После настройки параметров измерения с помощью системы управления устройство смены образцов начинает работу. Следуя инструкциям программы, он автоматически и точно по очереди доставляет каждый образец в позицию измерения рентгеновского дифрактометра. После завершения измерения одного образца устройство автоматически извлекает его и быстро доставляет следующий образец, пока все образцы не будут измерены. Данные измерений автоматически сохраняются, что упрощает последующий просмотр и анализ, а также снижает количество ошибок записи, которые могут возникнуть при ручных операциях. Весь процесс не требует ручного вмешательства, что позволяет оператору освободить время для других задач и избежать потенциальных ошибок, связанных с усталостью при длительной работе. Помимо базовой функции автоматической смены образцов, оборудование также может похвастаться несколькими примечательными особенностями: Повышение эффективности: обеспечивает возможность непрерывного автоматического измерения без участия оператора, что делает его особенно подходящим для быстрого скрининга партий образцов или последовательного анализа в течение длительных периодов времени. Согласованность данных: автоматизированный процесс сокращает вмешательство человека, помогая улучшить повторяемость и сопоставимость данных измерений. Простота эксплуатации: система управления на базе ПЛК, как правило, стабильна и удобна для пользователя, что снижает порог эксплуатации. Гибкое применение: в основном используется в таких областях, как охрана окружающей среды, электроника/аккумуляторы и других областях, требующих технологий анализа материалов. Этот автоматический сменщик образцов в первую очередь предназначен для применения в области рентгеноструктурного анализа (РФА). Компания Даньдун Тонгда Наука и Технология Ко., ООО. накопила опыт в области аналитических приборов. Её серия аналитических приборов и оборудования для неразрушающего контроля ТД применяется в различных областях материаловедения. Этот 6-позиционный (или 12-позиционный) автоподатчик образцов отражает подход компании к интеграции технологий автоматизации в традиционное испытательное оборудование для повышения общей эффективности. Будучи функциональным аксессуаром, он работает совместно с рентгеновскими дифрактометрами, расширяя возможности автоматизации основного прибора.
Рентгеновский монокристаллический дифрактометр ТД-5000 – высокопроизводительный прибор, разработанный компанией Даньдун Тонгда Технология. Одобренный в рамках Государственного проекта Китая по разработке ключевых научных приборов и оборудования, он заполняет критически важный пробел в этой области. Его основная функция – определение трёхмерной пространственной структуры и распределения электронной плотности кристаллических веществ, включая неорганические соединения, органические соединения и металлокомплексы, а также анализ структуры специальных материалов, таких как двойниковые кристаллы, несоразмерно модулированные структуры и квазикристаллы. Он точно измеряет трёхмерную пространственную структуру новых кристаллических соединений (включая длины связей, валентные углы, конфигурацию, конформацию и плотность электронов связей), а также фактическое расположение молекул в кристаллической решётке. Система предоставляет исчерпывающую структурную информацию, такую как параметры элементарной ячейки, пространственная группа, молекулярная структура, межмолекулярные водородные связи и слабые взаимодействия, а также молекулярная конфигурация/конформация. Он широко используется для аналитических исследований в области химической кристаллографии, молекулярной биологии, фармакологии, минералогии и материаловедения. Базовая технология: двойная революция в точности и интеллекте (1) «Механический глаз» с позиционированием на атомном уровне Четырехкружный концентрический дифрактометр: преодолевает традиционные ограничения механического смещения, поддерживая постоянный центр вращения, что гарантирует погрешность координат пятна дифракции ниже уровня нанометров. Детектор ПИЛАТУС: сочетает технологию счёта отдельных фотонов с ультратонкими пикселями размером 172 мкм. Частота кадров достигает 20 Гц, а шумоподавление в 3 раза выше, чем у обычных ПЗС-детекторов. (2) Полностью интеллектуальный замкнутый рабочий процесс Управление одним касанием ПЛК: автоматизирует весь процесс от позиционирования кристалла до сбора данных, сокращая время ручных операций на 90%. Система криогенного улучшения: обеспечивает точность регулировки температуры ±0,3 К (100–300 К), увеличивая интенсивность сигнала для слабодифрагирующих кристаллов на 50% при расходе жидкого азота всего 1,1–2 л/ч. (3) Двойная гарантия: безопасность и расширяемость Блокировка двери + защита от утечек (≤0,12 мкЗв/ч), что превышает национальные стандарты безопасности. Дополнительная многослойная фокусирующая оптика (двойная мишень Мо/Cu), позволяющая проводить полномасштабный анализ от фармацевтических препаратов с малыми молекулами до минералов с большими элементарными ячейками. Появление рентгеновского монокристального дифрактометра ТД-5000 знаменует собой нечто большее, чем просто прорыв в области приборостроения — оно знаменует собой начало эпохи, когда передовое научно-исследовательское оборудование Китая официально достигло уровня автономного точного определения. По состоянию на 2025 год эта система обслуживала более 30 ведущих институтов в различных областях, включая химию, материаловедение и аэрокосмическую промышленность. По мере того, как кристаллы раскрывают тайны жизни под пристальным взглядом приборов отечественной разработки, китайский научный «глаз, постигающий сущность материи» теперь сияет с ослепительной ясностью.
Рентгеновский кристаллоанализатор серии ТДФ — это крупногабаритный аналитический прибор, используемый для изучения внутренней микроструктуры веществ. Он в основном используется для ориентации монокристаллов, дефектоскопии, определения параметров решетки, определения остаточных напряжений, изучения структуры пластин и стержней, изучения структуры неизвестных веществ и дислокаций монокристаллов.
Высокомощный рентгеновский дифрактометр (настольный Рентгенодифракционный анализ) ТДМ-20 в основном используется для фазового анализа порошков, твердых веществ и подобных пастообразных материалов. Принцип рентгеновской дифракции может использоваться для качественного или количественного анализа, анализа кристаллической структуры и других поликристаллических материалов, таких как порошковые образцы и образцы металлов. Он широко используется в таких отраслях, как промышленность, сельское хозяйство, национальная оборона, фармацевтика, горнодобывающая промышленность, безопасность пищевых продуктов, нефть, образование и научные исследования.
Рентгеновский дифрактометр в основном используется для качественного и количественного анализа фаз, анализа кристаллической структуры, анализа структуры материалов, анализа ориентации кристаллов, определения макроскопического или микроскопического напряжения, определения размера зерна, определения кристалличности и т. д. образцов порошка, блока или пленки. Он произведен компанией Даньдун Тонгда Технологии Ко., ООО. и использует импортное управление Сименс ПЛК, что делает рентгеновский дифрактометр ТД-3500 обладающим характеристиками высокой точности, высокой достоверности, хорошей стабильности, длительного срока службы, простоты обновления, простоты эксплуатации и интеллекта, а также может гибко адаптироваться к анализу испытаний и исследованиям в различных отраслях промышленности!
Высокоразрешающий рентгеновский дифрактометр серии ТД-3700 является новым членом серии ТД, оснащенным различными высокопроизводительными детекторами, такими как высокоскоростные одномерные матричные детекторы, двумерные детекторы, СДД-детекторы и т. д. Он объединяет быстрый анализ, удобное управление и безопасность пользователя. Модульная аппаратная архитектура и настраиваемая программная система достигают идеального сочетания, делая его частоту отказов чрезвычайно низкой, антиинтерференционные характеристики хорошими и гарантируя долгосрочную стабильную работу высоковольтного источника питания.
Рентгеновский монокристаллический дифрактометр ТД-5000 в основном используется для определения трехмерной пространственной структуры и плотности электронного облака кристаллических веществ, таких как неорганические, органические и металлические комплексы, а также для анализа структуры специальных материалов, таких как двойникование, несоразмерные кристаллы, квазикристаллы и т. д. Определите точное трехмерное пространство (включая длину связи, угол связи, конфигурацию, конформацию и даже плотность электронов связи) новых молекул соединений (кристаллических) и фактическое расположение молекул в решетке; Он может предоставить информацию о параметрах кристаллической ячейки, пространственной группе, молекулярной структуре кристалла, межмолекулярных водородных связях и слабых взаимодействиях, а также структурную информацию, такую как молекулярная конфигурация и конформация. Он широко используется в аналитических исследованиях в химической кристаллографии, молекулярной биологии, фармакологии, минералогии и материаловедении.