При использовании графитовых материалов в качестве материалов отрицательных электродов литиевых аккумуляторов одним из необходимых условий является степень графитизации.

В 1912 году Лауэ и др. предсказанное теорией и подтвержденное экспериментом, что дифракция может произойти, когда рентгеновские лучи встречаются с кристаллом, доказав, что рентгеновские лучи обладают свойством электромагнитной волны, что стало первой вехой в дифракции рентгеновских лучей.

XAFS, как передовой метод определения характеристик для анализа локальной структуры материалов, может предоставить более точную информацию о координации атомной структуры в ближнем структурном диапазоне, чем рентгеновская дифракция кристаллов.

Рентгеновская дифракция — широко используемый неразрушающий аналитический метод, с помощью которого можно выявить кристаллическую структуру, химический состав и физические свойства веществ.

Рентгеновская дифракция, посредством дифракции рентгеновских лучей материала, анализа его дифракционной картины для получения состава материала, структуры или формы атомов или молекул внутри материала и других средств исследования.

Материал, в свойствах которого преобладают двумерные эффекты, свойства материала в двумерном масштабе отличаются от его свойств в более крупном масштабе.

По изменению положения и интенсивности пиков рентгеновской дифракции - можно сделать вывод о промежуточных продуктах, образующихся в ходе цикла, и на основе этих промежуточных продуктов можно дополнительно определить механизм реакции.

Рентгеновская дифракция проходит через каждый этап контроля качества лекарственных средств, например, исследование сырья и препаратов.

Остаточные напряжения оказывают большое влияние на стабильность размеров, устойчивость к коррозии под напряжением, усталостную прочность, фазовый переход и другие свойства материалов и компонентов. Его измерение вызвало широкую озабоченность в научных кругах и промышленности.

Недавно новое исследование успешно сплавило оксиды металлов с цеолитом А и раскрыло тайну этого процесса с помощью технологий рентгеноструктурный анализ и FTIR.