news

Рентгенография высокого разрешения (HR-рентгеноструктурный анализ) — это распространенный метод измерения состава и толщины сложных полупроводников, таких как СиГе, AlGaAs, InGaAs и т. д.

Рентгеновский дифрактометр (рентгеноструктурный анализ) можно разделить на рентгеновский порошковый дифрактометр и рентгеновский монокристаллический дифрактометр, основной физический принцип обоих одинаков.

рентгеноструктурный анализ — это средство исследования, которое представляет собой дифракцию рентгеновских лучей материала для анализа его дифракционной картины и получения такой информации, как состав материала, структура или форма атомов или молекул внутри материала.

Необходимо снизить вредное остаточное напряжение и спрогнозировать тенденцию распределения и величину остаточного напряжения. В этой статье представлен метод неразрушающего контроля остаточного напряжения.

Рентгеновская кристаллография — это метод, используемый для определения атомной и молекулярной структуры кристалла, при котором кристаллическая структура заставляет падающий рентгеновский луч дифрагировать во многих определенных направлениях.

Ниже представлены три одноточечных детектора: пропорциональный счетчик, сцинтилляционный счетчик и полупроводниковый твердотельный детектор.

Рентгенокристаллический анализатор - это своего рода большой аналитический прибор для изучения внутренней микроструктуры веществ, который в основном используется для ориентации монокристаллов, обнаружения дефектов, определения остаточных напряжений, дислокации монокристаллов и так далее.

Эта процедура является самостоятельной разработкой. Он содержит множество разработанных нами функций количественного анализа, которые соответствуют теории дифракции и рассчитываются по интегральной интенсивности.

Рентгеновские лучи — это тип коротковолнового электромагнитного излучения, промежуточный между ультрафиолетовыми и гамма-лучами, который был разработан немецким физиком В. К. Он был открыт Рентгеном в 1895 году, поэтому его также называют рентгеновскими лучами.