Глобальный рентгеновский дифрактометр (рентгеноструктурный анализ) стабильно развивался в последние годы, и Китай является рынком с большими перспективами развития.

На примере масштабирования осаждения в этой статье рассказывается, как использовать рентгеновский дифрактометр для качественного фазового и количественного анализа.

Применение новых технологий и новых продуктов, таких как 5G, большие данные и искусственный интеллект, создаст огромный спрос на рынке полупроводников, а глобальные расходы на полупроводниковое оборудование вступили в цикл роста.

Предыдущее подробное и полное представление о предпродажном, продажном и послепродажном обслуживании компании, представленное сегодня, представляет собой контент, связанный с обучением по продуктам нашей компании.

В последние годы растет интерес к измерению биологических образцов под высоким давлением. Это находит свое отражение в разработке новых методов измерения давления, отличных от тех, что реализованы в ЦАП. Один из них – техника замораживания кристаллов под давлением.

Рентгенография высокого разрешения (HR-рентгеноструктурный анализ) — это распространенный метод измерения состава и толщины сложных полупроводников, таких как СиГе, AlGaAs, InGaAs и т. д.

Рентгеновский дифрактометр (рентгеноструктурный анализ) можно разделить на рентгеновский порошковый дифрактометр и рентгеновский монокристаллический дифрактометр, основной физический принцип обоих одинаков.

Рентгеновская флуоресценция полного отражения (TXRF) — это метод анализа поверхностных элементов, обычно используемый для анализа частиц, остатков и примесей на гладких поверхностях.

рентгеноструктурный анализ — это средство исследования, которое представляет собой дифракцию рентгеновских лучей материала для анализа его дифракционной картины и получения такой информации, как состав материала, структура или форма атомов или молекул внутри материала.

Дифракция рентгеновских лучей скользящего падения (GI-рентгеноструктурный анализ) представляет собой разновидность метода дифракции рентгеновских лучей, который отличается от традиционного эксперимента по рентгеновской дифракции главным образом изменением угла падения рентгеновских лучей и ориентации образца.