Технология рентгеновской дифракции широко используется при исследовании литий-ионных аккумуляторов. рентгеноструктурный анализ — это традиционный метод качественного и количественного анализа фаз в материалах.

Принцип многих устройств для определения характеристик заключается в том, чтобы заставить электроны взаимодействовать с веществами, которые необходимо обнаружить, возбуждать вторичные электроны или совершать переходы и обратные переходы на атомных уровнях, а также высвобождать характеристическую энергию.

Поскольку спрос на литиевые батареи продолжает расти, необходимо срочно улучшить стандарты их производства и безопасности, поэтому необходимы системы 3D-контроля с высоким разрешением и высокой пропускной способностью.

рентгеноструктурный анализ может измерять сыпучие и порошкообразные образцы и предъявляет разные требования к образцам разных размеров и свойств.

Глобальный рентгеновский дифрактометр (рентгеноструктурный анализ) стабильно развивался в последние годы, и Китай является рынком с большими перспективами развития.

На примере масштабирования осаждения в этой статье рассказывается, как использовать рентгеновский дифрактометр для качественного фазового и количественного анализа.

Применение новых технологий и новых продуктов, таких как 5G, большие данные и искусственный интеллект, создаст огромный спрос на рынке полупроводников, а глобальные расходы на полупроводниковое оборудование вступили в цикл роста.

В последние годы растет интерес к измерению биологических образцов под высоким давлением. Это находит свое отражение в разработке новых методов измерения давления, отличных от тех, что реализованы в ЦАП. Один из них – техника замораживания кристаллов под давлением.

Рентгенография высокого разрешения (HR-рентгеноструктурный анализ) — это распространенный метод измерения состава и толщины сложных полупроводников, таких как СиГе, AlGaAs, InGaAs и т. д.

Рентгеновский дифрактометр (рентгеноструктурный анализ) можно разделить на рентгеновский порошковый дифрактометр и рентгеновский монокристаллический дифрактометр, основной физический принцип обоих одинаков.

Рентгеновская флуоресценция полного отражения (TXRF) — это метод анализа поверхностных элементов, обычно используемый для анализа частиц, остатков и примесей на гладких поверхностях.

рентгеноструктурный анализ — это средство исследования, которое представляет собой дифракцию рентгеновских лучей материала для анализа его дифракционной картины и получения такой информации, как состав материала, структура или форма атомов или молекул внутри материала.