Дифракция рентгеновских лучей скользящего падения (GI-рентгеноструктурный анализ) представляет собой разновидность метода дифракции рентгеновских лучей, который отличается от традиционного эксперимента по рентгеновской дифракции главным образом изменением угла падения рентгеновских лучей и ориентации образца.

В последние годы широкое внимание уделяется методу рентгеновского малоуглового рассеяния биологических макромолекул. В этой статье в основном будет представлен соответствующий прогресс в сочетании биологического малого угла и других методов за последние годы.

Необходимо снизить вредное остаточное напряжение и спрогнозировать тенденцию распределения и величину остаточного напряжения. В этой статье представлен метод неразрушающего контроля остаточного напряжения.

Неразрушающий контроль основан на развитии современной науки и техники. С развитием современной промышленности применение неразрушающего контроля становится все более популярным.

Рентгеновская дифракция (рентгеноструктурный анализ) в настоящее время является мощным методом изучения кристаллической структуры (например, типа и распределения атомов или ионов и их групп, формы и размера ячеек и т. д.).

Рентгеновская кристаллография — это метод, используемый для определения атомной и молекулярной структуры кристалла, при котором кристаллическая структура заставляет падающий рентгеновский луч дифрагировать во многих определенных направлениях.

Рентгеновские лучи — это тип электромагнитного излучения, широко используемый в медицине и промышленности. Хотя большинство рентгеновских лучей производятся искусственно, в природе также существуют некоторые явления, вызывающие рентгеновские лучи.

На основе закона Брэгга рентгеновская дифракция в-местонахождение (рентгеноструктурный анализ) может использоваться для мониторинга изменения фазы и параметров ее решетки на электроде или на границе раздела электрод-электролит в реальном времени во время цикла заряда-разряда электролита. аккумулятор.

Рентгеновский контроль — это метод неразрушающего контроля, который не повреждает сам объект и широко используется при тестировании материалов (КК), анализе отказов (ФА), контроле качества (КК), обеспечении качества и надежности (контроль качества/КК). контроль качества), исследования и разработки (НИОКР) и другие области.

Ниже представлены три одноточечных детектора: пропорциональный счетчик, сцинтилляционный счетчик и полупроводниковый твердотельный детектор.

Рентгеновская дифракция, посредством дифракции рентгеновских лучей материала, анализа его дифракционной картины для получения состава материала, структуры или формы атомов или молекул внутри материала и других средств исследования.